[发明专利]品质原因量度显示

说明书

本发明涉及用于数字调制的射频(RF)信号品质量度的显示，特别是涉及一种指示参数如何影响品质量度的品质原因量度显示。

许多仪器提供累积的合而为一的数字调制的RF信号的品质量度，例如一个8-残留边带(8-VSR)信号。这种累积的合而为一的品质量度的一个实例是信噪比，S/N。RF信号是信号传送时，有相同值标准序列的符号功率。噪声是实际发出的和标准的符号值之间的差。在发射机处信号很强，噪声通常有失真产品，该失真产品由下述原因引起：平滑度误差，群延迟误差，振幅误差，相位误差和相位噪声等等。

通常传送规范指出RF信号带有几个品质特征被传送，例如超过一些最小值的S/N，典型地为27dB。由于S/N是这么多变量的函数，因此典型的方法是从每一个噪声源生成一个噪声影响的预算。在各种噪声源中噪声功率如何分配，是基于经验。有一个探索，基于模拟，看一个给定的参数会改变多少且还在预算限度内。伴随该方法的问题是，由给定的变化而产生噪声的程度经常取决于相应噪声参数曲线的形状。因此模拟在不同的可能的曲线上运行并选择不同参数的作业极限。然后利用所模拟的形状，产生用于各种量度显示的面罩，并且希望实际的显示看起来与所模拟的相像。

尽管有可能分析这些噪声源中的每一个如何产生信号噪声，并试图建立每一个分量会达到多坏影响的一些类边界或极限，然而每一个参数中的可能变化范围太大，而使该方法不能产生好的成效。

另一个问题是为了满足给定的品质目标，一个给定的发射机需要平衡其噪声预算，而该预算不同于别的发射机。例如一个具有极好频率平滑度的发射机，可容忍稍微大一点的振幅调制，并还能达到品质目标。

在任何一种情况下，通常要给操作者累积的合而为一的品质量度，但是，如果品质量度不在规范内，操作者不知道什么发射机参数正以什么样的比例对该品质量度产生影响。

本发明希望提供一种品质原因量度显示，该显示可向操作者提供当量度超过极限时，什么参数是对该量度产生更巨大影响的一种指示。

因此本发明提供一种品质原因量度显示，它指出几个发射机参数中的每一个对量度值影响的百分比。一个测量仪器测量影响品质量度及总体品质量度的每个参数。产生一个标准发射机信号，且它被所测量的参数中的每一个轮流修正。修正的发射机信号用确定总体品质量度的品质量度运算法则进行测算。然后每一个测量的参数产生的品质量度影响与测量的总体品质量度进行比较，以产生每一个参数的影响百分比，该百分比被显示出，使操作者知道在发射机信号中什么产生了问题。

从下面的具体说明，并结合所附的权利要求书和附图，本发明的目的、优点和其它新颖的特征将显现出来。

图1是根据本发明用于提供品质原因量度显示的运算法则的流程图。

图2是根据本发明的品质原因量度显示的典型平面图。

常规的RF测量装置，例如由Tektronix,Inc.of Beaverton.Oregon制造的RFA300测量装置，用于对数字调制的RF信号的品质测量。该测量包括信噪比(S/N)、失量量值误差(EVM)、调制误差比(MER)等。该测量装置还测量不同的噪声源，例如振幅不平度，群延迟，相位噪声，振幅误差，相位误差，相位噪声等等，例如在待审的美国专利申请09/185,417的“发射机非线性的运行中测量”、09/185,418的“用于对相位噪声的运行中测量的检验装置和方法”以及09/185,421的“用数字数据评估同步相位和比率偏移的方法”中都有描述，这些专利都是由Xiaofen Chen等人在1998年11月3日提出申请的。

现参照图1，一个标准的数字调制的RF信号，由代表采样信号的一序列值的形式产生。然后该标准序列由前面提到的适当仪器(例如RFA300)测量的每一个参数值轮流修正，修正的序列由一个品质量度运算法则进行处理，以提供单独作为那个参数结果的量度。这使得品质量度值表与每一个测量参数相关。

然后由适当仪器测量的合成品质量度值与每一个单独量度值比较，从而推断出每一个参数对总体合成量度值的相对影响。

图2示出了这样一个过程的有效表示。该图表示出的“信噪比”为总体品质量度值。下面示出单独的“噪声功率影响”。通过此表可看出，很明显，对信噪比(S/N)总体值影响最大的是“振幅误差”。于是，有此信息的操作者可进行调整以减小振幅误差。测量数据的处理在给定参数量度和它引起的品质量度影响之间提供一个稳固的联系。这使得操作者了解什么产生了问题及在它的操作品质限度内可采用什么措施将发射机恢复。

本发明通过测量影响总体品质量度的每一个参数的单独影响，并显示每一个参数的影响百分比，而提供一种品质原因量度显示。