[发明专利]电子自旋分析器无效
| 申请号： | 01116778.5 | 申请日： | 2001-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN1322004A | 公开（公告）日： | 2001-11-14 |
| 发明（设计）人： | 武笠幸一;池田正幸;末岡和久;武藤征一;上远野久夫;上田映介 | 申请（专利权）人： | 北海道大学 |
| 主分类号： | H01J47/00 | 分类号： | H01J47/00;H01J49/08 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电子 自旋 分析器 | ||
1．一种电子自旋分析器，它包含电子束发生装置，与电子束发生装置的电子束射出孔相对的半球形加速电极，支承加速电极的电极支承件，位于加速电极外表面上的散射电子检测器，在加速电极内，在电极支承件上设置的散射靶，
加速电极具有由内加速电极和外加速电极构成的双重结构，内加速电极具有内引入入口，外加速电极具有外引入入口，内引入入口大于外引入入口。
2．按照权利要求1所述的电子自旋分析器，其中内引入入口的孔径角比外引入入口的孔径角大0.1～5°。
3．按照权利要求1或2所述的电子自旋分析器，其中外引入入口和内引入入口的彼此相对的边缘部分分别具有弯曲部分。
4．一种电子自旋分析器，它包含电子束发生装置，与电子束发生装置的电子束射出孔相对的半球形加速电极，支承加速电极的电极支承件，位于加速电极外表面上的散射电子检测器，在加速电极内，在电极支承件上设置的散射靶。
加速电极具有由内加速电极和外加速电极构成的双重结构，内加速电极具有把散射电子从散射靶引入散射电子检测器的内开孔，外加速电极具有把散射电子从散射靶引入电子检测器的外开孔，内开孔大于外开孔。
5．按照权利要求4所述的电子自旋分析器，其中内开孔的孔径角比外开孔的孔径角大0.1～5°。
6．按照权利要求4或5所述的电子自旋分析器，其中外开孔和内开孔的彼此相对的边缘部分分别具有弯曲部分。
7．一种电子自旋分析器，它包含电子束发生装置，与电子束发生装置的电子束射出孔相对的半球形加速电极，支承加速电极的电极支承件，位于加速电极外表面上，并且具有位于其中的校正电极的散射电子检测器，在加速电极内，在电极支承件上设置的散射靶。
8．按照权利要求7所述的电子自旋分析器，其中校正电极由静电透镜组成。
9．一种电子自旋分析器，它包含电子束发生装置，与电子束发生装置的电子束射出孔相对的半球形加速电极，支承加速电极的电极支承件，位于加速电极外表面上的散射电子检测器，在加速电极内，在电极支承件上设置的散射靶，散射电子检测器被布置在偏离被引入的电子的引入方向100～140°的方向上。
10．一种电子自旋分析器，它包含电子束发生装置，与电子束发生装置的电子束射出孔相对的半球形加速电极，支承加速电极的电极支承件，位于加速电极外表面上，并且具有位于其中的校正电极的散射电子检测器，在加速电极内，在电极支承件上设置的散射靶，
加速电极具有由内加速电极和外加速电极构成的双重结构，内加速电极具有内引入入口和把散射电子从散射靶引入散射电子检测器的内开孔，外加速电极具有外引入入口和把散射电子从散射靶引入散射电子检测器的外开孔，
内引入入口大于外引入入口，
内开孔大于外开孔，
散射电子检测器被布置在偏离被引入电子的引入方向100～140°的方向上。
11．按照权利要求10所述的电子自旋分析器，其中内引入入口的孔径角比外引入入口的孔径角大0.1～5°。
12．按照权利要求10或11所述的电子自旋分析器，其中外引入入口和内引入入口的彼此相对的边缘部分分别具有弯曲部分。
13．按照权利要求10所述的电子自旋分析器，其中内开孔的孔径角比外开孔的孔径角大0.1～5°。
14．按照权利要求10或13所述的电子自旋分析器，其中外开孔和内开孔的彼此相对的边缘部分分别具有弯曲部分。
15．按照权利要求10，11或13所述的电子自旋分析器，其中校正电极由静电透镜组成。
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