[发明专利]介电陶瓷组合物、电子器件及其生产方法有效

专利信息
申请号: 01117382.3 申请日: 2001-02-09
公开(公告)号: CN1314321A 公开(公告)日: 2001-09-26
发明(设计)人: 福井隆史;渡边康夫;高桥三喜夫;佐藤阳 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: C04B35/46 分类号: C04B35/46;C04B35/49;H01B3/12;H01G4/12;H01G4/30
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 卢新华,王其灏
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 陶瓷 组合 电子器件 及其 生产 方法
【权利要求书】:

1.一种介电陶瓷组合物,其至少含有:

一种含有成分表达式为{(Sr1-xCax)O}m·(Ti1-yZry)O2的介电氧化物组合物的主要组分和

一种含有R(这里R是选自:钪Sc、钇Y、镧La、铈Ce、镨Pr、钕Nd、钷Pm、钐Sm、铕Eu、钆Gd、铽Tb、镝Dy、钬Ho、铒Er、铥Tm、镱Yb和镥Lu之中的至少一种元素)的氧化物的第四次要组分,其中

在主要组分表达式中的符号m、 x和y表示成分的摩尔比并有下列关系:

0.94<m<1.02,

0≤x≤1.00,和

0≤y≤0.20,和

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物中的R,第四次要组分的摩尔比为0.02摩尔≤第四次要组分<2摩尔。

2.根据权利要求1的介电陶瓷组合物,其中在第四次要组分中含有的R氧化物是钪Sc、钇Y、铈Ce、镝Dy、钬Ho、铒Er、铥Tm、镱Yb和镥Lu之中的至少一种氧化物。

3.根据权利要求1的介电陶瓷组合物,在第四次要组分中含有的R氧化物晶粒是基本均匀地分布。

4.根据权利要求2的介电陶瓷组合物,在第四次要组分中含有的R氧化物晶粒是基本均匀地分布。

5.根据权利要求1的介电陶瓷组合物,还含有

一种至少含有选自下列元素的氧化物:V、Nb、W、Ta和Mo和/或在烧结后形成这些氧化物的化合物的第一次要组分,其中

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物中的金属元素,第一次要组分的摩尔比为0.01摩尔≤第一次要组分<2摩尔。

6.根据权利要求2的介电陶瓷组合物,还含有

一种至少含有选自下列元素的氧化物:V、Nb、W、Ta和Mo和/或在烧结后形成这些氧化物的化合物的第一次要组分,其中

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物中的金属元素,第一次要组分的摩尔比为0.01摩尔≤第一次要组分<2摩尔。

7.根据权利要求1的介电陶瓷组合物,其还含有

一种Mn的氧化物和/或在烧结后能形成Mn的氧化物的化合物的第二次要组分,其中

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物中的金属元素,第二次要组分的摩尔比为0摩尔≤第二次要组分<4摩尔。

8.根据权利要求2的介电陶瓷组合物,其还含有

一种Mn的氧化物和/或在烧结后能形成Mn的氧化物的化合物的第二次要组分,其中

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物中的金属元素,第二次要组分的摩尔比为0摩尔≤第二次要组分<4摩尔。

9.根据权利要求1的介电陶瓷组合物,其还含有

选自SiO2、MO(其中,M是选自Ba、Ca、Sr和Mg之中的至少一种元素)、Li2O和B2O3之中的至少一种类型的化合物的第三次要组分,其中

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物,第三次要组分的摩尔比为0摩尔<第三次要组分<15摩尔。

10.根据权利要求2的介电陶瓷组合物,其还含有

选自SiO2、MO(其中,M是选自Ba、Ca、Sr和Mg之中的至少一种元素)、Li2O和B2O3之中的至少一种类型的化合物的第三次要组分,其中

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物,第三次要组分的摩尔比为0摩尔<第三次要组分<15摩尔。

11.根据权利要求1的介电陶瓷组合物,其还含有

一种含有(Srp,Ca1-p)SiO3(其中p为0.3≤p≤1)的第三次要组分,其中

基于100摩尔的主要组分,其换算为氧化物,第三次要组分的摩尔比为0摩尔<第三次要组分<15摩尔。

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