[发明专利]动态随机存取内存的缺陷修护及状态显示的方法无效

专利信息
申请号: 01118329.2 申请日: 2001-05-24
公开(公告)号: CN1329337A 公开(公告)日: 2002-01-02
发明(设计)人: 后健慈;徐秀莹 申请(专利权)人: 盖内蒂克瓦尔有限公司
主分类号: G11C29/00 分类号: G11C29/00;G11C7/24
代理公司: 北京集佳专利商标事务所 代理人: 王学强
地址: 英属维*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 动态 随机存取 内存 缺陷 修护 状态 显示 方法
【权利要求书】:

1.一种动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:主要是由一监督程序经常性地检查动态随机存取内存(DRAM)的各个存储页面内存资料完整性的运作状态,并予以实时回复维持正常运作,包括有下列步骤:

a.预定一备份的存储页面以作为测试页面资料的暂存地址;

b.每一个测试周期开始后,被测试存储页面内存资料复制至前述备份存储页面;

c.建立一对应缓冲表用以指出被测试存储页面与预定的备份存储页面的相对映位置;并透过对应缓冲表将被测试存储页面重配置至预定的备份存储页面,使存取动作改变至备份存储页面;

d,若测试无误,将备份存储页面内存资料回存至被测试存储页面,并且重新开放其存取动作,及继续下一个存储页面的测试;

e.若测试发现有错误,监督程序将持续冻结该被测试存储页面,且任何存取至该被测试存储页面的动作均将依据对应缓冲表而改变至预定的备份存储页面;

f.显示组件显示测试结果。

2.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中该监督程序是一页一页地逐页检查。

3.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中该监督程序的测试周期是由一定时器所供应。

4.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中显示组件为液晶显示组件(LCD)、监视器等。

5.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中该步骤f显示的结果包括:测试频率、完整报告、发现错误、内存利用总和及实际内存大小等讯息,以使使用者实时掌握DRAM的使用状况。

6.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中该显示组件的显示内容保持原状直到下一个测试周期开始。

7.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中该步骤e中被测试存储页面被持续占用,下一个存储页面测试时,监督程序再预定另一个备份存储页面以便被测试存储页面继续暂存资料,同时对应缓冲表并记录发现缺陷的存储页面,及下一个被测试存储页面与预定的备份存储页面的对映关系。

8.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中该存储页面检查更包括有不包含错误修正码检查方法,是透过正常的硬件测试,对存储页面的写入然后读出的连续动作动作,去测试是否可以正常的存取,倘若不行则表示该存储页面发生错误。

9.如权利要求1所述的动态随机存取内存的缺陷修护及显示方法,其特征在于:其中该存储页面检查更包括有包含错误修正码检查方法,是于前述监督程序将资料复制至备份存储页面时同时进行,若发生单一位错误时,将记录该存储页面为不稳定并予以修复及加强检验;若相同的错误再发生,则将执行步骤e以避免单一位转变为双位错误;若错误消失,则执行步骤d。

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