[发明专利]光学拾取装置、物镜和对光记录介质再现及/或记录的装置无效
申请号: | 01119065.5 | 申请日: | 2001-05-24 |
公开(公告)号: | CN1333537A | 公开(公告)日: | 2002-01-30 |
发明(设计)人: | 大田耕平;荒井则一 | 申请(专利权)人: | 柯尼卡株式会社 |
主分类号: | G11B7/12 | 分类号: | G11B7/12;G11B7/135;G02B13/24 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 马浩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 拾取 装置 物镜 对光 记录 介质 再现 | ||
1.一种用于进行至少两种光学信息记录介质上的信息的再现或记录的光学拾取装置,包括:
一第一光源,其发射具有第一波长的第一光通量,以进行具有第一透明基板的第一光学信息记录介质上信息的再现或记录;
一第二光源,其发射具有第二波长的第二光通量,以进行具有第二透明基板的第二光学信息记录介质上信息的再现或记录;
一具有至少一个光学元件的光学会聚系统;以及
一光检测器,其接收和检测透过第一光学信息记录介质的第一信息记录表面或由该表面反射的光,或者接收和检测透过第二光学信息记录介质的第二信息记录表面或由该表面反射的光;
其中第一波长不同于第二波长,而且第一透明基板的厚度不同于第二透明基板的厚度;
其中该光学元件包括一包含光轴的第一区域以及与第一区域相邻并处于第一区域外侧的第二区域,且第一区域为反射面,第二区域为衍射面;
其中当第一光通量通过该光学元件的第二区域时,第一光通量的n-级衍射光线的光量大于第一光通量的任何其它级衍射光线的光量;且当第二光通量通过该光学元件的第二区域时,第二光通量的n-级衍射光线的光量大于第二光通量的任何其它级衍射光线的光量,其中n为除0之外的整数;
其中该光学会聚系统会聚已被通过第一区域的第一光通量和已被通过第二区域的通过第一透明基板进到第一信息记录表面的第一光通量的n-级衍射光线,以便进行第一光学信息记录介质上信息的再现或记录;并且该光学会聚系统会聚已被通过第一区域的通过第二透明基板进到第二信息记录表面的第二光通量,以便进行第二光学信息记录介质上信息的再现或记录。
2.如权利要求1的光学拾取装置,其中该光学元件包括一与第二区域相邻并位于第二区域外侧的第三区域,而且第三区域为一反射面,以及
其中该光学会聚系统会聚已被通过第一区域的第一光通量、已被通过第二区域的第一光通量的n-级衍射光线、以及已被通过第三区域的通过第一透明基板进到第一信息记录表面的第一光通量,以便进行第一光学信息记录介质上信息的再现或记录;并且该光学会聚系统会聚已被通过第一区域的第二光通量和已被通过第二区域的通过第二透明基板到第二信息记录表面的第二光通量的n-级衍射光线,以便进行第二光学信息记录介质上信息的再现或记录。
3.如权利要求2的光学拾取装置,其中该光学会聚系统包括一物镜,并且满足以下条件式:
NA2<NA1
NAH1<NA1
(1/3)NA2<NAL1<NA2其中NA1为该物镜需要利用第一光通量在光学信息记录介质一侧进行第一光学信息记录介质上信息的再现或记录所需要的数值孔径;NA2为该物镜需要利用第二光通量在光学信息记录介质一侧进行第二光学信息记录介质上信息的再现或记录所需要的数值孔径;NAH1为该物镜在光学信息记录介质一侧对于在最远离光轴的第二区域的一位置处已被通过的第一光通量的数值孔径;而且NAL1为该物镜在光学信息记录介质一侧对于在最靠近光轴的第二区域的一位置处已被通过的第一光通量的数值孔径。
4.如权利要求3的光学拾取装置,其中满足以下条件式:
NAH1<(9/10)NA1
(1/2)NA2<NAL1<NA2
5.如权利要求4的光学拾取装置,其中满足以下条件式:
0.45≤NAH1≤0.56
0.3≤NAH1<0.45
6.如权利要求2的光学拾取装置,其中已被通过第一区域的第一光通量、已被通过第二区域的第一光通量的n-级衍射光线、以及已被通过第三区域的第一光通量,其总的波前象差在第一信息记录表面上为0.07λrms或者更小;而且已被通过第一区域的第二光通量以及已被通过第二区域的第二光通量的n-级衍射光线,其总的波前象差在第二信息记录表面上为0.07λrms或者更小。
7.如权利要求6的光学拾取装置,其中已被通过第一区域的第二光通量、已被通过第二区域的第二光通量的n-级衍射光线、以及已被通过第三区域的第二光通量,其总的波前象差在第二信息记录表面上大于0.07λrms。
8.如权利要求2的光学拾取装置,其中该光学元件进一步包括一在第二区域和第三区域之间的分界处带有与光轴平行或接近平行的阶梯表面的阶形部分,且此阶梯表面沿光轴方向的长度为1至10μm。
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