[发明专利]检测装置无效
申请号: | 01120288.2 | 申请日: | 2001-07-16 |
公开(公告)号: | CN1335632A | 公开(公告)日: | 2002-02-13 |
发明(设计)人: | 味田广二;佐藤功;坂仓洋太郎 | 申请(专利权)人: | 阿尔卑斯电气株式会社 |
主分类号: | H01H25/00 | 分类号: | H01H25/00 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人: | 刘激扬 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 | ||
1.一种检测装置,其特征在于设置有呈若干段形式的输入组件,各输入组件中作为阻抗值可变的元件与固定型阻抗器件串联连接,并且取位于上述元件与上述固定型阻抗器件间的中间部作为输出部,
而且还设置有使呈若干段形式的输入组件上的一个端部位于预定电位,并且将各输入组件上的另一端部依次切换至低电位处用的切换组件,从而使上述输入组件由上述切换组件切换至上述低电位处,并且对由上述输入组件上的上述输出部给出的输出信号实施检测。
2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于还设置有与上述呈若干段形式的输入组件上的上述输出部共同连接的共用输出通路,并且利用这种共用输出通路,对由上述另一端部被切换至低电位处的输入组件给出的输出信号实施检测。
3.如权利要求2所述的检测装置,其特征在于在上述共用输出通路的、呈上述若干段形式的输入组件中,相对于上述输入组件上的各个元件串联连接有共用型固定阻抗器件,该固定型阻抗器件的端部保持为上述预定电位,同时通过上述切换组件将上述元件上的各相应端部切换至低电位处。
4.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于设置有对上述输入组件的输出信号实施检测,并且构成为上述切换组件的控制部,上述控制部用于将上述输入组件上的另一端部依次切换至低电位,同时将未切换至低电位的上述另一端部切换至高阻抗状态。
5.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于上述阻抗值可变的元件具有阻抗器件,以及其电阻抗率比该阻抗器件低且可以通过产生弹性变形的方式与上述阻抗器件相接触的接触点器件,而且通过上述阻抗器件与上述接触点器件间接触面积的变化,使上述元件的阻抗值产生变化。
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