[发明专利]测量仪有效
申请号: | 01124381.3 | 申请日: | 2001-07-26 |
公开(公告)号: | CN1334436A | 公开(公告)日: | 2002-02-06 |
发明(设计)人: | 仁科信吾;太刀挂正彦;白石吉昭;田中里枝;林田秀二;久慈能贵;斋藤修;中土井哲也 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B3/18 | 分类号: | G01B3/18 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 刘立平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测量仪 | ||
1.一种测量仪,所述测量仪包括主体和可轴向移动地设置在该主体上的测杆,使测杆作轴向移动并与待测物抵接,由此时测杆的移动位置测量待测物的尺寸,其特征在于,所述测量仪具有:
杆套,所述杆套设在前述主体内,可在前述测杆的移动方向作同向移动且可在任意位置固定;
连接构件,所述连接构件将该杆套和前述测杆连接的同时,允许所述杆套和测杆在这些移动方向以所定的行程作相对移动;
加力装置,所述加力装置收放在前述杆套内,并通过前述连接构件对前述测杆施以朝待测物抵接方向的加力;及
显示上述加力装置的加力大小的加力显示装置。
2.根据权利要求1所述的测量仪,其特征在于,所述杆套上螺合有可改变所述加力装置的加力大小的加力可变构件。
3.根据权利要求2所述的测量仪,其特征在于,前述加力显示装置由包含使前述加力可变构件贯通前述连接构件而设置的刻度杆、沿着该刻度杆的长度方向以一定的间隔形成的刻度构成。
4.根据权利要求2所述的测量仪,其特征在于,前述加力显示装置由螺旋轴、螺帽件和固定在该螺帽件上的指针构成,上述螺旋轴贯通前述加力可变构件并设置在前述连接构件上,其外部具有阳螺纹;上述螺帽件与该螺旋轴螺合,且相对杆套可旋转但不能轴向移动。
5.根据权利要求1所述的测量仪,其特征在于,前述加力显示装置由感应开关和显示该感应开关动作的显示部构成,上述感应开关在前述侧杆与杆套在接近到规定距离时感应。
6.根据权利要求5所述的测量仪,其特征在于,所述测量仪设有位置检测显示装置,该装置用电气信号检测前述测杆的移动位置,根据该杆测结果将测杆的移动位置用数字表示,该位置检测显示装置的显示值在前述杆测开关作动时得到保持。
7.根据权利要求1所述的测量仪,其特征在于,前述加力显示装置由在前述连接构件和加力装置之间的检测器和显示用该力检测器检测出的力的大小的测量力显示部构成。
8.根据权利要求1所述的测量仪,其特征在于,前述杆套相对前述主体在轴向可移动但不能旋转,而且最好与可旋转地设在前述主体的定位置上的套筒螺合。
9.根据权利要求1所述的测量仪,其特征在于,在前述本体中设有测砧,该测砧与测杆相对并在其与测杆之间夹持待测物,在测砧侧主体中夹着前述测杆轴线的测砧两侧最好可旋转地设置保持装置,该保持装置能将与前述测砧之间的待测物保持。
10.根据权利要求2所述的测量仪,其特征在于,所述测量仪设置预压力显示装置,该装置可显示通过前述加力可变构件的螺合而变化的前述加力装置的预压力。
11.根据权利要求10所述的测量仪,其特征在于,前述预压显示装置具有沿前述加力可变构件的外周轴向设置的刻度。
12.根据权利要求11所述的测量仪,其特征在于,前述预压力显示装置具有显示筒和刻度,上述显示筒设置成可在前述加力可变构件的外周作旋转调整且在轴向可位置调整,而上述刻度沿着该显示筒的外周轴向设置。
13.根据权利要求11所述的测量仪,其特征在于,覆盖前述加力可变构件的盖可脱卸地安装在前述主体上。
14.根据权利要求13所述的测量仪,其特征在于,前述盖上设置露出前述刻度的窗口。
15.一种测量仪,所述测量仪系包括主体,设在该主体上、可轴向移动的测杆及数字显示测杆的移动位置的数值显示部,所述测量仪使测杆作轴向移动的同时与待测物抵接,通过此时测杆的移动位置来测量待测物的尺寸,其特征在于,
所述测量仪具有:
可检测前述测杆推压待测物的测量力的测量力检测装置,和
显示保持装置,所述显示保持装置可将通过该测量力检测装置检测出的测量力达到事先设定的测量力时对前述数字显示部的显示值进行保持。
16.根据权利要求15所述的测量仪,其特征在于,
前述测量力检测装置包括可旋转地设置在前述主体上的指针、可将前述检测推压待测物的测量力变换为指针的旋转运动的运动变换机构、和检测出运动变换机构的一部分或指针达到事先设定的规定量变位、并向前述显示保持装置发出保持指令的感应开关。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社三丰,未经株式会社三丰许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01124381.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:倒装芯片型半导体装置及其制造方法
- 下一篇:由金属颗粒催化生长单壁碳质毫微管