[发明专利]检测摆动缺陷的设备和方法

权利要求书

1.一种检测包含在光记录介质上的摆动模式中的缺陷的设备，所述设备包括：

锁相环(PLL)，当施加来自摆动模式的摆动信号时，生成锁相环摆动信号和摆动时钟信号；

窗信号发生器，当施加锁相环摆动信号和摆动时钟信号时，根据预定窗宽条件生成指示摆动窗时段的信号；

摆动锁定/开锁检测器，当施加摆动窗信号和摆动信号时，根据预定摆动锁定和开锁条件输出检测摆动锁定状态和开锁状态之一的信号；和

摆动缺陷检测器，当施加检测摆动锁定状态和开锁状态之一的信号、摆动窗信号和摆动信号时，根据预定缺陷判定条件检测在摆动模式中是否存在任何缺陷。

2.根据权利要求1所述的设备，其中考虑摆动时钟信号的个数设定所述窗宽条件。

3.根据权利要求1所述的设备，其中考虑在摆动窗时段内存在摆动信号的连续检测次数设定所述摆动锁定条件，和考虑在摆动窗时段内不存在摆动信号的连续检测次数设定所述摆动开锁条件。

4.根据权利要求1所述的设备，其中考虑在摆动锁定状态下，在摆动窗时段内连续没有检测到摆动信号的次数设定所述预定缺陷判定条件。

5.根据权利要求1所述的设备，其中摆动缺陷检测器检测对每个块或每个扇区是否存在缺陷。

6.根据权利要求1所述的设备，其中摆动锁定/开锁检测器包括：

第一计数器，如果在摆动窗时段期间，摆动信号存在，则计数摆动窗信号的个数，和如果在摆动窗时段期间，摆动信号不存在，则被复位或清除；

第一比较器，如果计数结果满足所述摆动锁定条件，则将来自第一计数器的计数结果与所述摆动锁定条件相比较，并请求摆动锁定状态；

第二计数器，如果在摆动窗时段期间，摆动信号不存在，则计数摆动窗信号的个数，和如果在摆动窗时段期间，摆动信号存在，则被复位或清除；和

第二比较器，如果计数结果满足摆动开锁条件，则将来自第二计数器的计数结果与摆动开锁条件相比较，并请求摆动开锁状态；和

摆动锁定/开锁信号发生器，根据来自第一和第二比较器的输出，输出指示摆动锁定/开锁状态的信号。

7.根据权利要求1所述的设备，其中摆动缺陷检测器包括：

第三计数器，如果在摆动锁定状态下，在摆动窗时段期间摆动信号不存在，则计数摆动窗信号的个数；

第三比较器，如果计数值满足缺陷判定条件，则将从第三计数器输出的计数值与预定检测判定条件相比较，并输出指示缺陷检测的信号。

8.一种检测包含在光记录介质上的摆动模式中的缺陷的方法，所述方法包括：

在锁相环(PLL)中锁相来自摆动模式的摆动信号，和生成锁相环摆动信号和摆动时钟信号；

利用锁相环摆动信号和摆动时钟信号生成具有预定窗宽的摆动窗信号；

当在通过摆动窗信号设定的摆动窗时段内摆动信号的存在满足预定摆动锁定或开锁条件时，检测摆动锁定或开锁状态；和

当摆动锁定状态下在摆动窗时段内摆动信号的存在满足预定缺陷判定条件时，生成缺陷检测信号。