[发明专利]射频自动切换批量测试方法

说明书

发明领域

本发明属于射频自动测试领域，尤其涉及，一种射频自动切换批量测试方法。

现有技术

在目前的通信制造行业，现有射频器件的测试方法通常采用手工操作的测试仪器，对各项指标的合格情况进行人工判断，这种测试方法存在以下的不足：(1)射频器件的测试指标多，测量每一项指标都需要人工选择测试通道，需要接入大量接头，人工干预多，测试速度慢；(2)对测试人员的要求高，需要熟练掌握各种仪器的操作方法和各项目的测试方法，操作容易出错。

本发明的目的是，针对上述人工测试的不足，利用GPIB总线技术控制射频开关阵列和相应测试仪器，通过IEEE488.2标准命令控制射频开关阵列快速切换射频通道、控制相应的测试仪器，并读取数据进行处理。从而实现远端控制和处理，提高测试效率和精度。

发明内容

本发明是这样实现的：一种射频自动切换批量测试方法，所述方法包括以下步骤：

1〕读取用户设定的待测指标；

2〕根据用户设定的待测指标控制测试设备进行测试；

3〕将测试得到的原始数据读入计算机，从所述原始数据中挑选与所述被测指标相关的数据，并对所述数据进一步处理、计算、分析得出结论，生成测试报表。

射频自动切换批量测试方法在一定程度上解决了射频器件的测试指标多、需要接入大量接头、人工干预多、测量每一项指标都需要人工选择测试通道、测试速度慢等方面的缺点，它利用计算机控制射频开关在不同测试对象之间或同一测试对象的不同测试项目之间进行切换的方法，代替人工选择测试通道，而射频开关的切换可以通过标准的IEEE488.2命令来实现，也就是说开关的切换可以通过软件的远端控制来实现，这样可以把测试各项射频指标过程中需要的对仪器的远端控制、对开关阵列的远端控制和其他对数据的处理过程集成在一起，实现自动测试系统。这种方法大大提高了测试效率和准确度。另外通过开关阵列很容易实现批量测试，对生产型的测试很有好处。

附图说明

下面，参照附图，对于熟悉本技术领域的人员而言，从对本发明方法的详细描述中，本发明的上述和其他目的、特征和优点将显而易见。

图1为本发明方法的示意框图；

图2是在功放自动测试系统中采用本发明的硬件连接图；

图3是在图2所示的功放自动测试系统中实现的流程图；

图4是CDU(合分路单元)自动测试系统的硬件连接示意图。

具体实施方式

请参见图1，所示为本测试方法的总体结构框图，由计算机11(包括GPIB卡和相应的测试处理程序)、专用专用测试设备12、射频开关阵列13、被测对象14四部分组成。专用测试设备12通过射频开关阵列13的选通与被测对象14连接，而对专用测试设备12和射频开关阵列13的控制都是计算机通过GPIB接口进行的。计算机11和专用测试设备12之间的数据流是双向的，一方面计算机11输出标准的IEEE488.2命令控制测试设备进行测试，另一方面计算机11读取专用测试设备12的测试数据，计算机11还将进行数据的计算、分析，处理和存储，形成测试报表。

功放单板测试是基站系统BTS单板测试的一部分。长期以来这部分都是通过人工进行，人工测试过程中始终存在着以下问题：(1)功放单板测试数量多，每块单板在测试前需要不断电烤机15分钟，故单板测试的工作量大、时间长；(2)测试数据数量多，需要手工记录、计算、分析。

功放自动化测试系统利用本射频自动切换批量测试方法，结合现有的测试机框结构，实现了1～6块功放单板的同时烤机、一次性连续测试。