[发明专利]测试电路板的方法和设备无效
| 申请号： | 01132657.3 | 申请日： | 2001-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN1352397A | 公开（公告）日： | 2002-06-05 |
| 发明（设计）人： | G·露兹 | 申请（专利权）人： | ATG试验体系两合公司 |
| 主分类号： | G01R31/308 | 分类号： | G01R31/308;G01R31/309 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 李家麟 |
| 地址： | 联邦德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 电路板 方法 设备 | ||
1.一种测试电路板的方法，其中，所述电路板具有导电路径，所述导电路径的端点形成电路测试板测试点，其特征在于，所述方法包含下列步骤：
对一组电路板测试点中的短路及开路情形进行光学测试，且所述光学测试方式可用于各扫描区中相关的导电路径，所述扫描区中，各有一组彼此紧靠的电路板测试点及诸导电路径：以及
对其余电路板测试点及其余导电路径中的短路及开路情形进行电测试。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在每一种情况下，所述电路板测试点组及导电路径都完全位于所述扫描区中。
3.如权利要求1或第2所述的方法，其特征在于，所述彼此靠近的相邻电路板测试点间的距离小于300微米。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述扫描区最大半径为150至200微米。
5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述扫描区的最大半径为150至200微米。
6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述扫描区的最大半径为50微米。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电测试时使用一指状测试仪或平行式测试仪。
8.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述电测试时使用一指状测试仪或平行式测试仪。
9.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述电测试实施时是不借助于等离子体、激光光束或电子束方法的。
10.一种用以实施如权利要求1所述的方法的装置，所述装置包含：
一用以对电路板进行电测试的装置，以及
一用以对一组电路板进行光学测试的装置，所述进行光学测试的装置可应用于扫描区中相关的导电路径上，其中，所述一组电路板测试点及导电路径完全位于所述扫描区中。
11.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述对一电路板进行电测试的装置为一平行式测试仪(2)或一指状测试仪，且该装置与一测试台(3)通过一传送所述电路板的传输带(9)而相接，所述测试台(3)有一光学传感器。
12.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述对一电路板进行电测试的装置为一指状测试仪，所述指状测试仪具有接触指(29)及一或多个用以进行光学扫描的光学传感器(32)。
13.如权利要求11所述的装置，其特征在于，所述光学传感器为一摄像机(32)。
14.如权利要求12所述的装置，其特征在于，所述光学传感器为一摄像机(32)。
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