[发明专利]光学拾取头装置有效
| 申请号： | 01132955.6 | 申请日： | 1998-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN1347096A | 公开（公告）日： | 2002-05-01 |
| 发明（设计）人： | 刘长勋;李哲雨 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/12 | 分类号： | G11B7/12;G11B7/135;G02B3/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 李晓舒 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 拾取 装置 | ||
1、一种可适用不同类型光记录载体的光学拾取头装置，采用特定波长的光束记录或/和读取信息，其特征在于，所述装置包括：
发出特定波长光束的光源；
用于将所述光源发出的光束聚焦于光记录载体信息记录面的物镜，该物镜以其光轴为中心包含内区、围绕内区的环形全息环区及环绕该环形全息环周边的外区，所述的环形全息环区由多个具有一定深度的环形沟槽构成；
用以变换将光源发出的光引向物镜并从光记录载体信息记录面反射的光束光路的光学元件；
光电探测器，用以检测自上述光学元件入射的光束中的光学信息；
并且，聚焦于所述光记录载体信息记录面的光束斑至少包含所述物镜内区及环形全息环区入射的光束。
2、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的环形全息环具有与物镜相同的光轴，并且具有与物镜表面相同的曲率。
3、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的环形全息环设置于与数值孔径在0.3至0.5范围内所相应的物镜区域。
4、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的环形全息环具有全息图案的结构。
5、如权利要求4所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜环形全息图具有通过刻蚀形成或者通过金属模塑制成的深度恒定的槽线。
6、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的环形全息环根据入射光束的波长调节物镜的数值孔径NA。
7、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的环形全息环具有负光焦度并采用了移相全息图结构。
8、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的环形全息环根据入射光束的波长产生相位变化。
9、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜与光记录载体之间的工作距离与光记录载体厚度相关，并具有相应的工作距离。
10、如权利要求1所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的全息环区对特定波长的入射光束的相位改变量与构成该全息环区的沟槽深度相关。
11、如权利要求1至10中任一项所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述物镜的环形全息环根据入射光束的波长发生衍射。
12、如权利要求1至10中任一项所述的光学拾取头装置，其特征在于，当所述的光记录载体为较厚光盘时，聚焦于光记录载体信息记录面的光束斑为由所述物镜的内区及环形全息环区入射的光束。
13、如权利要求1至10中任一项所述的光学拾取头装置，其特征在于，当所述的光记录载体为较薄光盘时，聚焦于光记录载体信息记录面的光束斑为由所述物镜的内区、环形全息环区及外区所透过的光。
14、如权利要求1至10中任一项所述的光学拾取头装置，其特征在于，所述的光源包括发出较短波长光束的用于较薄光记录载体的第一光源及发出较长波长光束的用于较厚光记录载体的第二光源。
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