[发明专利]检测介质厚度变化和/或补偿其引起的球形像差的拾取器

权利要求书

1.一种光学拾取器，包括：光源，用于产生和发射光束；物镜，用于聚焦来自光源的入射光以在记录介质上形成光点；和安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器，用于改变入射光束的行进路径，该光学拾取器的特征在于包括：

光束划分与检测装置，用于将从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束划分成第一光束部分，并从第一和第二光束部分检测第一和第二检测信号；和

厚度变化检测电路，用于通过从第一检测信号中减去第二检测信号来检测记录介质的厚度变化。

2.如权利要求1所述的光学拾取器，其中光束划分与检测装置可以是具有第一和第二光接收部分的光检测器，用于将入射光束划分成第一和第二光束部分，接收第一和第二光束部分，并分别光电转换第一和第二光束部分。

3.如权利要求1所述的光学拾取器，其中光束划分与检测装置包括：

光束划分器，用于将入射光束划分成第一和第二光束部分；和

第一和第二光检测器，用于从光束划分器接收第一和第二光束部分，并分别光电转换第一和第二光束部分。

4.如权利要求1至3中任一项权利要求所述的光学拾取器，其中光束划分与检测装置如此构建，以使光束被划分成为圆形或矩形的第一光束部分和围绕第一光束部分的第二光束部分并检测。

5.如权利要求4所述的光学拾取器，其中第一光束部分对应于全部入射光束的10-90％。

6.如权利要求1至3中任一项权利要求所述的光学拾取器，其中厚度变化检测电路利用预定的增益因子放大第一和第二检测信号中的至少一个信号，然后处理第一和第二检测信号以检测记录介质的厚度变化。

7.一种光学拾取器，包括：光源，用于产生和发射光束；物镜，用于聚焦来自光源的入射光以在记录介质上形成光点；和安置在光源和物镜之间的光学路径上的光学路径改变器，用于改变入射光束的行进路径，该光学拾取器的特征在于包括：

光束划分与检测装置，用于将从记录介质反射后经过物镜和光学路径改变器的光束划分成光轴上的第一光束部分和在第一光束部分周围的第二和第三光束部分，并从第一、第二和第三光束部分检测第一、第二和第三检测信号；和

厚度变化检测电路，用于通过从第一检测信号中减去第二和第三检测信号之和来检测记录介质的厚度变化。

8.如权利要求7所述的光学拾取器，其中光束划分与检测装置是具有第一、第二和第三光接收部分的光检测器，用于将入射光束划分成第一、第二和第三光束部分，接收第一、第二和第三光束部分，并分别光电转换第一、第二和第三光束部分。

9.如权利要求7所述的光学拾取器，其中光束划分与检测装置包括：

光束划分器，用于将入射光束划分成第一、第二和第三光束部分；和

第一、第二和第三光检测器，用于从光束划分器接收第一、第二和第三光束部分，并分别光电转换第一、第二和第三光束部分。

10.如权利要求7至9中任一项权利要求所述的光学拾取器，其中厚度变化检测电路利用预定的增益因子放大第一、第二和第三检测信号中的至少一个信号，然后处理第一、第二和第三检测信号以检测记录介质的厚度变化。

11.如权利要求1至3和7至9中任一项权利要求所述的光学拾取器，其中第一光束部分对应于全部入射光束的10-90％。

12.如权利要求1至3和7至9中任一项权利要求所述的光学拾取器，还包括在光学路径改变器和物镜之间的光学路径上的球形像差补偿单元，用于根据由厚度变化检测电路产生的厚度变化信号通过驱动补偿由记录介质厚度变化引起的球形像差。

13.如权利要求1至3和7至9中任一项权利要求所述的光学拾取器，还包括：

在光源和物镜之间的光学路径上的校准镜，用于校准来自光源的偏向光束；和

执行器，用于根据由厚度变化检测电路检测的厚度变化信号驱动校准镜，从而补偿由记录介质厚度变化引起的球形像差。