[发明专利]电光装置、其检查方法及电子装置

说明书

[发明的详细说明]

[发明所属的技术领域]

本发明涉及电光装置、其检查方法及电子装置。

[现有技术]

众所周知，液晶装置被广泛地用于移动电话机等各种电子装置的显示装置中。该液晶装置有：经密封材料贴合起来的一对基板；被夹持在两片基板之间的液晶；以及对液晶施加电压用的多个电极。更详细地说，一般是这样构成的，即，从安装在基板上的驱动器IC或柔性基板等输出的驱动信号经基板上形成的布线被供给各个电极。

可是，在这样的液晶装置的制造工序中，一般要检查所有的像素是否正常地点亮，即进行所谓的点亮检查。进行该点亮检查时，首先，使检查装置备有的多个检查用端子接触到在基板上形成的布线上。其次，将规定的驱动信号从这些检查用端子经各布线供给多个电极。然后，通过目视或利用CCD(Charge Coupled Device，电荷耦合器件)摄象机等，观察其结果显示的图像，判断是否所有的像素正常地点亮。

[发明所要解决的课题]

可是，在基板上形成的各布线之间的间隔狭窄的情况下，使各检查用端子对所期望的布线进行准确的接触是极其困难的。即，如果相邻的布线之间的间隔狭窄，则难以使一个检查用端子只接触一条布线，有时会发生横跨并接触相邻的两条布线，结果不能进行正确的检查。

另外，在为了谋求显示的高精细化而增加电极的条数的情况下，布线数也随之增加。在此情况下，需要使基板上相邻的布线之间的间隔变窄，所以上述的问题特别显著地出现。另外，通过采用COG(ChipOn Glass，芯片键合在玻璃上)技术，将驱动器IC安装在基板上时，需要将伸出区域上的布线集中在安装驱动器IC的区域中，所以在该区域附近不得不使各布线之间的间隔变窄。因此，在此情况下上述问题变得很严重。另外，在作为电光物质使用EL(Electro-Luminescence，电致发光)发光层的EL装置等其他电光装置中同样会产生这些问题。

本发明就是鉴于以上说明的情况而完成的，目的在于提供一种即使在基板上形成的布线之间的间隔狭窄的情况下，也能进行正确的检查的电光装置的检查方法、成为该检查方法的对象的电光装置、以及使用该电光装置的电子装置。

[解决课题的方法]

为了解决上述课题，本发明的电光装置的特征在于：备有保持电光物质的基板；以及在上述基板中与上述电光物质相向的区域以外的区域上形成的有迂回布线部的多条布线，上述各布线的迂回布线部有第一部分、以及其宽度比该第一部分窄的第二部分。换句话说，其特征在于：上述各布线的迂回布线部有第一部分和第二部分，相邻的迂回布线部的第二部分中的间隔比第一部分中的间隔宽。

一般说来，在电光装置的检查工序中，需要使检查用端子接触在基板上露出的布线(即迂回布线部)上。可是，在布线的间隔极其狭窄的情况下，会发生一个检查用端子横跨并接触两条布线的不适当的情况，所以难以进行正确的检查。如果采用本发明的电光装置，则迂回布线部中的第二部分中的宽度比第一部分中的宽度窄。换句话说，相邻的布线中第二部分中的间隔比第一部分中的间隔宽。因此，如果使检查用端子接触到第二部分，则即使在应只接触任意一条布线的检查用端子的位置发生了若干偏移的情况下，也能避免该检查用端子接触到其他布线的情况。因此，如果采用本发明，即使在基板上形成的布线之间的间隔(更严格地说，第一部分中的间隔)极其狭窄的情况下，也能用检查用端子进行正确的检查。

可是，为了实现这样的作用，也可以考虑例如使全部迂回布线部的宽度变窄。可是，在采用这样的结构的情况下，会发生布线电阻变高的问题、以及布线容易断线的问题。与此不同，如果采用本发明，则由于只是迂回布线部中的一部分(第二部分)的宽度变窄，所以能抑制这些问题的发生。

在上述的电光装置中最好备有安装在上述基板中与上述电光物质相向的区域以外的区域上、将输出信号供给上述各布线的驱动器IC。这样，在采用COG技术将驱动器IC安装在基板上的情况下，由于需要使多条布线朝向安装驱动器IC的区域集中，所以不得不使各布线的间隔变窄。因此，如果采用即使在各布线之间的间隔狭窄的情况下也能进行正确的检查的本发明，则在应用于基板上安装了驱动器IC的电光装置中的情况下，能收到特别显著的效果。