[发明专利]准直器控制方法和设备,以及X线CT设备无效

专利信息
申请号: 01138428.X 申请日: 2001-11-09
公开(公告)号: CN1352919A 公开(公告)日: 2002-06-12
发明(设计)人: 藤重高志;贯井正健;乡野诚 申请(专利权)人: GE医疗系统环球技术有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;G01N21/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳,张志醒
地址: 美国威*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 准直器 控制 方法 设备 以及 ct
【权利要求书】:

1.一种准直器控制方法,包括如下步骤:

利用准直器把自X线球管焦点发射的X线变为扇形束,并把扇形束投射到探测器单元阵列,该探测器单元阵列包括沿扇形束的厚度方向并排排列的多个探测器单元排,每个探测器单元排包括沿扇形束的延展方向以直线形式排列的多个X线探测器单元;

检测探测器单元阵列上沿探测器单元排并排排列方向上扇形束的照射位置和预定照射位置之间的误差;以及

根据所述检测到的误差控制准直器使扇形束的照射位置和预定照射位置相吻合。

2.如权利要求1所定义的准直器控制方法,还包括:

根据X线探测的信号的差与所述X线探测的信号的和的比例来检测所述误差,该X线探测的信号由探测器单元排的并排排列方向上相邻的X线探测器单元进行探测。

3.一种准置器控制方法,包括如下步骤:

利用准直器把自X线球管焦点发射的X线变为扇形束,并把扇形束投射到探测器单元阵列,该探测器单元阵列包括沿扇形束的厚度方向并排排列的多个探测器单元排,每个探测器单元排包括沿扇形束的延展方向以直线形式排列的多个X线探测器单元;

检测探测器单元阵列上沿探测器单元排并排排列方向上扇形束的照射位置和预定照射位置之间的误差;以及

根据所述检测到的误差控制准直器使扇形束的照射位置和预定照射位置相吻合,其中,当所述误差在第一区域时,不进行控制,当所述误差超出第一区域并在比第一区域大的第二区域时,采用第一比例增益进行控制,而当所述误差超出第二区域时,采用比第一比例增益大的第二增益进行控制。

4.如权利要求3所定义的准直器控制方法,还包括:

根据所述X线探测的信号的差与所述X线探测的信号的和的比例来检测误差,该X线探测信号由探测器单元排的并排排列方向上相邻的X线探测器单元进行探测。

5.一种准置器控制方法,包括如下步骤:

利用准直器把自X线球管焦点发射的X线变为扇形束,并把所述扇形束投射到探测器单元阵列,该探测器单元阵列包括沿扇形束的厚度方向并排排列的多个探测器单元排,每个探测器单元排包括沿扇形束的延展方向以直线形式排列的多个X线探测器单元;

检测探测器单元阵列上沿探测器单元排并排排列方向上所述扇形束的照射位置和预定照射位置之间的误差;

去除该所述检测到的误差中的高频分量;并

根据去除了高频分量后的所述误差控制所述准直器使扇形束的照射位置和预定照射位置相吻合。

6.如权利要求5所定义的准直器控制方法,还包括:

根据X线探测的信号的差与所述X线探测的信号的和的比例来检测误差,该X线探测的信号由所述探测器单元排的并排排列方向上相邻的X线探测器单元进行探测。

7.如权利要求5所定义的准直器控制方法,还包括:

用平均处理去除所述高频分量。

8.如权利要求5所定义的准直器控制方法,还包括:

用低通滤波去除所述高频分量。

9.一种准直器控制方法,包括如下步骤:

利用准直器把自X线球管焦点发射的X线变为扇形束,并把扇形束投射到探测器单元阵列,该探测器单元阵列包括沿扇形束的厚度方向并排排列的多个探测器单元排,每个探测器单元排包括沿扇形束的延展方向以直线形式排列的多个X线探测器单元;

检测探测器单元阵列上沿探测器单元排并排排列方向上扇形束的照射位置和预定照射位置之间的误差;

将所述检测到的误差中的高频分量去除,以及

根据去除了高频分量后的误差控制所述准直器使所述扇形束的照射位置和预定照射位置相吻合,其中,当误差在第一区域时,不进行控制,当误差超出第一区域并在比第一区域大的第二区域内时,采用第一比例增益进行控制,而当误差超出第二区域时,采用比第一比例增益大的第二增益进行控制。

10.如权利要求9所定义的准直器控制方法,还包括:

根据X线探测的信号的差与所述X线探测的信号的和的比例来检测误差,该X线探测的信号由探测器单元排的并排排列方向上相邻的X线探测器单元进行探测。

11.如权利要求9所定义的准直器控制方法,还包括:

用平均处理去除所述高频分量。

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