[发明专利]阵列式电子接点可靠性的测试方法及其测试结构无效
| 申请号： | 01141798.6 | 申请日： | 2001-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN1409123A | 公开（公告）日： | 2003-04-09 |
| 发明（设计）人： | 陈振贤;章厚昆 | 申请（专利权）人： | 赛迪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 阵列 电子 接点 可靠性 测试 方法 及其 结构 | ||
【说明书】：
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