[发明专利]一种半导体器件的制造方法无效

专利信息
申请号: 01142960.7 申请日: 1995-02-03
公开(公告)号: CN1361551A 公开(公告)日: 2002-07-31
发明(设计)人: 大谷久;宫永昭治;竹山顺一 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;G02F1/136
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 郭广迅
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体器件 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,其包括:

基片;

多个像素,每个像素包含在所述基片之上以矩阵形式排列的第一薄膜晶体管;

至少一个用于驱动所述多个像素的驱动电路,其包含多个在所述基片之上形成的第二薄膜晶体管;

包含多个在所述基片之上形成的第三薄膜晶体管的存储器,

其中所述第一、第二和第三薄膜晶体管中的每一个包含沟道,所述沟道含有沿平行于所述基片的方向延伸的结晶硅。

2.一种半导体器件,其包括:

基片;

多个像素,每个像素包含在所述基片之上以矩阵形式排列的第一薄膜晶体管;

至少一个用于驱动所述多个像素的驱动电路,其包含多个在所述基片之上形成的第二薄膜晶体管;

包含多个在所述基片之上形成的第三薄膜晶体管的校正存储器,

其中所述第一、第二、第三和第四薄膜晶体管中的每一个包含沟道,所述沟道含有沿平行于所述基片的方向延伸的结晶硅。

3.一种半导体器件,其包括:

基片;

多个像素,每个像素包含在所述基片上以矩阵形式排列的第一薄膜晶体管;

至少一个用于驱动所述多个像素的驱动电路,其包含多个在所述基片之上形成的第二薄膜晶体管;

中央处理器,其包含多个在所述基片之上的第三薄膜晶体管,操作上与所述驱动电路连接,

其中所述第一、第二、第三和第四薄膜晶体管中的每一个包含沟道,所述沟道含有沿平行于所述基片的方向延伸的结晶硅。

4.一种半导体器件,其包括:

基片;

多个像素,每个像素包含在所述基片之上以矩阵形式排列的第一薄膜晶体管;

至少一个用于驱动所述多个像素的驱动电路,其包含多个在所述基片之上形成的第二薄膜晶体管;

输入端,其包含多个在所述基片之上的第三薄膜晶体管,操作上与所述驱动电路连接,

其中所述第一、第二、第三和第四薄膜晶体管中的每一个包含沟道,所述沟道含有沿平行于所述基片的方向延伸的结晶硅。

5.一种半导体器件,其包括:

基片;

多个像素,每个像素包含在所述基片之上以矩阵形式排列的第一薄膜晶体管;

至少一个用于驱动所述多个像素的驱动电路,其包含多个在所述基片之上的第二薄膜晶体管;

存储器,其包含多个在所述基片之上的第三薄膜晶体管,

其中所述第一、第二、第三和第四薄膜晶体管中的每一个包含结晶硅,所述结晶硅是通过下列步骤形成的:

在所述基片之上形成非晶硅膜;

通过施加到所述非晶硅的第一能量,形成与所述非晶硅接触或在所述非晶硅之内的晶核;

通过施加到所述基片的第二能量,沿平行于所述基片的方向由所述晶核生长晶体。

6.一种半导体器件,其包括:

基片;

多个像素,每个像素包含在所述基片之上以矩阵形式排列的第一薄膜晶体管;

至少一个用于驱动所述多个像素的驱动电路,其包含多个在所述基片之上的第二薄膜晶体管;

校正存储器,其包含多个在所述基片之上的第三薄膜晶体管,

其中所述第一、第二、第三和第四薄膜晶体管中的每一个包含结晶硅,所述结晶硅是通过下列步骤形成的:

在所述基片之上形成非晶硅膜;

通过施加到所述非晶硅的第一能量,形成与所述非晶硅接触或在所述非晶硅之内的晶核;

通过施加到所述基片的第二能量,沿平行于所述基片的方向由所述晶核生长晶体。

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