[实用新型]晶片测试机的晶片分类装置

说明书

本实用新型是与测试晶片的装置有关，更详而言之，乃是指一种晶片测试机的晶片分类装置。

按，习知的晶片测试机，在晶片测试完成后，通常利用一抓取装置将晶片由测试台上移出，然而，该种抓取装置通常由至少二真空吸头利用二机械手臂所组成，利用该二机械手臂来移动该二真空吸头来将良好、及劣质的晶片分别置放于对应的承载物上，进而达成分类的效果。

前述的习知抓取装置的缺点在于：须使用到真空吸头、机械手臂等昂贵的设备，使得成本居高不下；再者，机械手臂及真空吸头的机构较为复杂，组装时亦须加以精准定位，其组合时亦较为耗时、费工。

本实用新型的主要目的即在提供一种晶片测试机的晶片分类装置，其构件极为简单，且成本较低。

本实用新型的次一目的乃在提供一种晶片测试机的晶片分类装置，其构件极为简单，组装时极为容易。

缘是，依据本实用新型所提供的一种晶片测试机的晶片分类装置，用来将测试完成的晶片依其良劣加以分类，该处理装置包含有：二进料管，顶端连接于晶片测试机上的测试座，底端各设有一阻挡器；一搬运机构，由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成，该轨道横向设置于该二进料管的下方，该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动，该二驱动器设置于该轨道两端，且分别连接于该二活动载台，该二活动载台的底端各设有一阻挡器；四出料管，设置于该轨道下方，位于内侧的二出料管对正于该二进料管；藉此，测试完成的晶片沿该二进料管进入该二活动载台后，该二活动载台即受驱动而将晶片依其测试后的良劣结果分别移至对应的出料管，进而达到分类区隔的效果。

其中该阻挡器是为一气缸。

其中各该驱动器是为一空压缸，以其活塞杆连接于该活动载台。

其中该四出料管中位于外侧的二出料管的底端设有一阻挡器。

有关本实用新型的详细结构，特征及功效，以下兹举一较佳实施例，并配合图式作进一步的说明，其中：

图1是本实用新型一较佳实施例的组合示意图；

图2是本实用新型一较佳实施例配合设置于测试台上的组合示意图；

图3是本实用新型一较佳实施例配合设置于测试台上的侧视示意图；

图4是本实用新型一较佳实施例的动作状态图；

图5是本实用新型一较佳实施例的另一动作状态图；

图6是本实用新型一较佳实施例的再一动作状态图。

请参阅图1至图2，本实用新型一较佳实施例所提供的一种晶片测试机的晶片分类装置10，是配合装设于具有二测试座91的晶片测试机90上，用来将测试完成的晶片依其良劣加以分类，该分类装置10主要由二进料管11、一搬运机构21、以及四出料管31所组成，其中：

该二进料管11，分别以其顶端连接于双座晶片测试机90上的二测试座91，用以承接测试后的晶片，该二进料管11的底端各设有一阻挡器12，本实施例中为一气缸，以其活塞杆(图中未示)伸入于各该进料管11的底端来产生挡止、释放等动作，可用来控制晶片是否向下掉出；

该搬运机构21，由一轨道22、二活动载台24、二驱动器26所组成，该轨道22横向设置于该二进料管11下方，该二活动载台24设置于该轨道22上而可沿该轨道22横向往复移动，该二驱动器26，本实施例中为一空压缸，以其活塞杆27连接于各该活动载台24，藉以驱动该二活动载台24位移，该二活动载台24的底端各设有一阻挡器25，本实施例中为一气缸，以其活塞杆(图中未示)伸入于各该活动载台24的底端来产生挡止、释放等动作，可用来控制晶片是否向下掉出；

该四出料管31，设置于该轨道22下方，位于内侧的二出料管31对正于该二进料管11，位于外侧的二出料管31的底端则各设有一阻挡器32，本实施例中是为一气缸。

请再参阅图3，本实用新型分类装置10配合设置于一晶片测试机90上时，是以倾斜的方式设置于机台上，利用重力的方式让晶片下滑；