[实用新型]一种电流调制增益耦合激光器无效
申请号: | 01204407.5 | 申请日: | 2001-02-27 |
公开(公告)号: | CN2468193Y | 公开(公告)日: | 2001-12-26 |
发明(设计)人: | 朱洪亮;王圩;刘国利;张子莹 | 申请(专利权)人: | 北京福创光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01S5/00 | 分类号: | H01S5/00 |
代理公司: | 北京元中专利事务所 | 代理人: | 王明霞 |
地址: | 1000*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电流 调制 增益 耦合 激光器 | ||
1、一种电流调制增益耦合激光器,其特征在于在InP衬底上表面生长一层介质膜,以介质膜光栅图形为掩体向衬底作选择离子注入,在栅格间隙的衬底表面层内形成离子注入区光栅,除去介质掩膜,在平整的光栅面上连续外延生长缓冲层、MQW有源层和上掩埋层等层结构,用光刻技术作出脊形波导激光器。
2、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于p-InP衬底可选择n型离子源例如Si,S,Se,Te,Sn作注入,形成反型注入岛区22,亦可选择中性质子源例如He+,H+或过渡金属Ti作注入,形成补偿注入高阻岛区32。
3、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于n-InP衬底可选择P型离子源例如Be,Zn,Mg,Cd作注入,形成反型注入岛区42。
4、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于外延掩埋层结构中,在MQW有源层与衬底光栅界面之间生长有一层p-InP缓冲薄层23或33。
5、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于外延掩埋层结构中,在MQW有源层与衬底光栅界面之间生长有一层n-InP缓冲薄层43。
6、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于MQW有源层上的掩埋层25和35包括四元n型刻蚀终止层、n-InP覆盖层和重掺杂n型电极接触层。
7、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于MQW有源层上的掩埋层45包括四元p型刻蚀终止层、p-InP覆盖层和重掺杂p型电极接触层。
8、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于MQW有源区的综合应变可以是压应变、张应变或应变补偿材料,也可以是体材料。
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