[实用新型]一种电流调制增益耦合激光器无效

专利信息
申请号: 01204407.5 申请日: 2001-02-27
公开(公告)号: CN2468193Y 公开(公告)日: 2001-12-26
发明(设计)人: 朱洪亮;王圩;刘国利;张子莹 申请(专利权)人: 北京福创光电子股份有限公司
主分类号: H01S5/00 分类号: H01S5/00
代理公司: 北京元中专利事务所 代理人: 王明霞
地址: 1000*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电流 调制 增益 耦合 激光器
【权利要求书】:

1、一种电流调制增益耦合激光器,其特征在于在InP衬底上表面生长一层介质膜,以介质膜光栅图形为掩体向衬底作选择离子注入,在栅格间隙的衬底表面层内形成离子注入区光栅,除去介质掩膜,在平整的光栅面上连续外延生长缓冲层、MQW有源层和上掩埋层等层结构,用光刻技术作出脊形波导激光器。

2、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于p-InP衬底可选择n型离子源例如Si,S,Se,Te,Sn作注入,形成反型注入岛区22,亦可选择中性质子源例如He+,H+或过渡金属Ti作注入,形成补偿注入高阻岛区32。

3、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于n-InP衬底可选择P型离子源例如Be,Zn,Mg,Cd作注入,形成反型注入岛区42。

4、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于外延掩埋层结构中,在MQW有源层与衬底光栅界面之间生长有一层p-InP缓冲薄层23或33。

5、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于外延掩埋层结构中,在MQW有源层与衬底光栅界面之间生长有一层n-InP缓冲薄层43。

6、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于MQW有源层上的掩埋层25和35包括四元n型刻蚀终止层、n-InP覆盖层和重掺杂n型电极接触层。

7、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于MQW有源层上的掩埋层45包括四元p型刻蚀终止层、p-InP覆盖层和重掺杂p型电极接触层。

8、如权利要求1所述的电流调制增益耦合激光器,其特征在于MQW有源区的综合应变可以是压应变、张应变或应变补偿材料,也可以是体材料。

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