[实用新型]直接投射式光电挠度位移测量装置无效
| 申请号： | 01206766.0 | 申请日： | 2001-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN2532475Y | 公开（公告）日： | 2003-01-22 |
| 发明（设计）人： | 朱永;陈伟民;黄尚廉;符欲梅 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 重庆创新专利事务所有限公司 | 代理人： | 张先芸 |
| 地址： | 400044 重庆市沙*** | 国省代码： | 重庆;85 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 直接 投射 光电 挠度 位移 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.直接投射式光电挠度位移测量装置，包括光发射源(1)、光接收器两部分；光接收器为组合结构，由光电接收靶(2)与硬件处理电路(3)组成，并设置在同一壳体内由信号线连接成一体，其特征在于：光电接收靶(2)由接收屏(5)、近场透镜(6)、光电阵列探测器组合(7)组成；接收屏(5)、近场透镜(6)、光电阵列探测器(7)及硬件处理电路(3)依顺序平行排列，安装在壳体内同一基座上；硬件处理电路(3)采用数字芯片的模块化结构电路板。
2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述光电接收靶(2)为近场透镜阵列(6)与光电阵列探测器(7)组合而成的图像扫描传感器的组合接收器件。
3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于：所述光电接收靶(2)的组合接收器件通过拼接接长，而扩大测量范围。
4.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于：所述硬件处理电路(3)采用FPGA芯片、单片机或DSP等其他数字处理芯片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆大学，未经重庆大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01206766.0/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
