[实用新型]稳态大视场偏振干涉成像光谱仪无效
| 申请号： | 01213108.3 | 申请日： | 2001-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN2475013Y | 公开（公告）日： | 2002-01-30 |
| 发明（设计）人： | 张淳民 | 申请（专利权）人： | 张淳民 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45 |
| 代理公司： | 陕西省发明专利服务中心 | 代理人： | 李中群 |
| 地址： | 710048 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 稳态 视场 偏振 干涉 成像 光谱仪 | ||
【权利要求书】：
1、一种稳态大视场偏振干涉成像光谱仪，其特征在于它由沿入射光向同轴依次设置的前置光学透镜组(1)、视场补偿型偏振干涉仪(2)、收集光学透镜(3)和面阵探测器(4)组成，其中：偏振干涉仪(2)包括沿系统光轴同轴依次设置的起偏器(21)、视场补偿型萨瓦偏光镜和检偏器(25)，所说的萨瓦偏光镜由两块并排放置的负晶萨瓦板(22、24)和一块夹设在两负晶萨瓦板(22、24)之间的正晶半波补偿板(23)构成，两萨瓦板(22、24)的光轴在同一平面内且分别与系统光轴成45°和135°角；面阵探测器(4)的信号输出端通过联接线与计算机信号处理系统(5)的信号获取输入端联接。
2、如权利要求1所述的稳态大视场偏振干涉成像光谱仪，其特征在于所说的萨瓦偏光镜由两块并排放置的正晶萨瓦板(22、24)和一块夹设在两正晶萨瓦板(22、24)之间的负晶半波补偿板(23)构成，两萨瓦板(22、24)的光轴在同一平面内且分别与系统光轴成45°和135°角。
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