[实用新型]实时间润滑油污染度测定装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种实时间润滑油污染度测定装置。

背景技术

近年来机器、电子等全盘产业领域中科学技术的划时代发展，迫切地需要为了防止机器和各种系统的意外故障及因而造成的意外事故所需的预防整备技术或最适状态判断技术。需要这些技术的除了汽车、飞机等机械类以外发电所、制铁所、石油化学工厂等大型工厂也在内。

到目前为止在国内外已实用化的状态判断技术以测定技术的特性来进行分析：系统动作变数(温度、压力、及速度)测定方法，机器或润滑油的物理化学变化测定方法，磨损能量(震动/噪音)测定或检查被磨损掉的材料损失测定方法等。并且把这些技术按测定周期分类的话周期检验的离线(off-line)方法和实时间(on-line)方法。

这些技术中属于本实用新型的定量测定润滑油内污染度的机器及技术是机器在运转状态中不需要机器的分解也可以随时观察、确认机器消耗部品的破损程度，因此称得上状态判断技术领域中的核心技术。

测定分析润滑油中发生的磨损量而判断机器系统的破坏与否及健全性的所谓通过污染度测定来判断状态的技术是使用润滑油的机器系统内发生的磨损粒子的量及其它从外部渗透的污染度分析技术，跟定量测定人体内血液的白血球及红血球的数，诊断人体健康的技术相似，因此也可称机器健康诊断技术。

通过污染度的测定，判断状态的技术是为了测定定量和定性的结果而使用。第一，定量测定分析按照不同的运作时间所消耗掉的机器消耗部位的磨损粒子量，第二，定性测定分析磨损粒子的成分、磨损粒子的大小变化、外部污染粒子的渗入与否、机器消耗部位的腐朽发生与否及氧化程度等。根据以上的测定分析结果首先判断机器系统的健全性，并且分析磨损现象的迁移特性事前预知机器系统的破坏。而且分析连续发生的磨损特性撑握现使用的机器系统的主要磨损部件，把这些结果活用于改造机器系统设计的基本设计资料。

定量测定润滑油内污染度的原有的状态判断机器是主要有以下几种。第一，在实验室里分析样品的off-line状态判断机器--分光分析器(spectroscopy)及粒子计算器(particle counter)。分光分析器是测定润滑油内已被污染的物质成份及定量含量，现使用于飞机发动机等的状态判断。这个测定器能精确地测定污染度的优点，但它不能获悉有关污染物质大小方面的信息，它能测定的污染粒子的大小大约局限于1-20μm。粒子计算器是测定润滑油内含有的污染粒子的大小，分散程度及总污染度的精密机器，但污染程度严重时不能测定，并且无法知道污染粒子成份的信息。第二，可以举例在美国专利公告第4、187、170号里登出来的ferrography机器，英国专利公告第8、121、183号上登出来的RPD(Rotary Particle Depositor)机器，及PQ(particle quantifier)机器等。以上技术中ferrography及RPD采用在油中已污染的粒子固定在透明的玻璃表面的方法，把这些污染粒子利用光学显微镜或电子显微镜来扩大视觉化后分析污染粒子的大小、形态、颜色等。通过以上的污染粒子特性分析可以得知润滑油内污染发生的基本原因和现况。但是以上技术拥有不同分析者而会有不同的结果的缺点。

实验性测定分析润滑油内污染度的离线(off-line)方法是因为定期抽取润滑油进行测定分析，所以非常麻烦并且会发生抽取工作中产生的各种误差。还有突然发生机器破损时不能事前预知、防止事故的缺点。

实时间测定污染度的原有机器是QDM(Quantitative Debris Monitor)磁芯片探测器(Magnetic Chip Detector)、液体状态显示器(Fluid ConditionMonitor：E.C.M)等。QDM是磁气诱导油内的污染粒子使之冲突在特定的传感器表面，由此产生的电压脉动电流的特性来测定污染度的机器，但它只能测定大于100μm的污染粒子，并且随时交替受损的传感器表面的麻烦。磁芯片探测器是在润滑油内注射磁性体物质后在磁性体表面付着常磁性体污染粒子，之后用肉眼等方法定期分析磁性体物质的机器，它的优点是在现场简单使用，但付着在磁性体表面的常磁性体粒子只能大于100μm，并且不能检测非磁性体污染粒子的缺点。