[实用新型]硅锗/硅异质结内发射红外探测器无效

专利信息
申请号: 01246269.1 申请日: 2001-06-29
公开(公告)号: CN2480823Y 公开(公告)日: 2002-03-06
发明(设计)人: 张翔九;胡际璜 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;H01L31/0264
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 代理人: 陆飞
地址: 20043*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 硅锗 硅异质结内 发射 红外探测器
【权利要求书】:

1、一种SiGe/Si异质结内光电发射红外探测器,由硅衬底片、及硅衬底片上制作的SiO2层、硼扩散区、淡磷扩散区、浓磷扩散区、红外探测窗口和电极组成,其特征在于红外探测窗口采用分子束外延生长的Si1-xGex/Si异质结材料;合金Si1-xGex中,0.45≤x≤0.55,厚度为100-120埃,p型掺杂源为B2O3,p型掺杂浓度为1020/cm3数量级。

2、根据权利要求1所述的红外探测器,其特征在于硅衬底片上热氧化生成的SiO2层厚度为7000-10000埃;在SiO2层上光刻有一方形环状硼扩散窗口p+区,p+区环的宽度为6±2μm,硼扩散区的方块电阻为10-20Ω/□,结深2±0.1μm;在p+区内周界所包围的区域光刻有方形环状淡磷扩散区n,该n区环的宽度为6±2μm,淡磷扩散区方块电阻为450-550Ω/□,结深1±0.1μm;在n区上侧处光刻有浓磷扩散区n+,浓磷扩散区的方块电阻为4-6Ω/□,结深1±0.1μm;在图形的中央处光刻有一方形光敏区G,在G内由分子束外延生长有Si1-xGex合金;在p+区与n+区光刻有引线孔C与C’;在C与C’处制作有铝电极T,厚度2.2±0.3μm;在上面还淀积有钝化用的介质层。

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