[实用新型]压痕自动测量装置无效

专利信息
申请号: 01250577.3 申请日: 2001-09-05
公开(公告)号: CN2491825Y 公开(公告)日: 2002-05-15
发明(设计)人: 陈怀宁;林泉洪;梁越;陈静;周爱玉 申请(专利权)人: 中国科学院金属研究所
主分类号: G01N3/48 分类号: G01N3/48
代理公司: 沈阳科苑专利代理有限责任公司 代理人: 许宗富,周秀梅
地址: 110016 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 压痕 自动 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及残余应力的测量技术,具体地说是一种用于冲击压痕法测残余应力的压痕自动测量装置。

背景技术

目前测量残余应力的方法主要有3种:全释放法、X射线法、盲孔法。可分为两类,其中:X射线法属于物性法范畴,是利用材料在应力作用下物性(晶格常数)发生变化的原理测定残余应力,这类方法的优点是在测定过程中不损坏被测工件,属无损残余应力检测;缺点是对材料特性和样品的表面状态依赖性很大,因而在实际检测中较难把握,精度也难以保证,因而在焊接结构使用现场使用较少(X射线设备的便携性不够,对焊接结构测量误差偏大)。全释放法和盲孔法属于应力释放法范畴,全释放法是一种破坏性的方法,靠应力的全部释放获得很高的测量精度;盲孔法是利用钻一小盲孔使构件中的残余应力释放,由于采用应变片作为测量敏感元件,因此具有较高的测量精度,且设备也便于携带,但却在一定程度上损伤被测件。压痕法测残余应力是一种全新的应力测量技术,它的测量原理是利用附加应力场与原始应力场叠加后的输出应变的变化规律测残余应力。冲击压痕法测量残余应力装置有以下几个部分构成:应变片、应变仪、压痕制造装置、压痕自动测量装置以及底座等组成,但是要正确进行测量,冲击压痕测量装置是该测量方法中的关键之一。现有技术中,压痕测量靠通用的光学读数显微镜完成,由人工操作,工作强度大,压痕测量结果受人为因素影响大,从而导致残余应力的测量精度不过关。

发明内容

本实用新型提供一种测量质量精、结构简单、操作方便的压痕自动测量装置。

为了实现上述目的,本实用新型的技术方案是:主要由调节装置、上下套筒、照明装置、顶盖、摄像装置组成,其中:并联的一组发光二极管安装在一护套里构成的照明装置通过紧固盖与下套筒螺纹连接,下套筒内置摄像装置,位于发光二极管后方,在下套筒一端轴向设有导向凹槽,通过定向销安装在上套筒内侧,与其定向滑动连接,一顶盖与上套筒螺纹安装在一起,所述调节装置穿过顶盖中间的孔、安装在上套筒中的空腔里,并与下套筒螺纹连接;

所述调节装置由调节螺杆、调节帽、弹簧组成,调节螺杆为管状结构,内置来自摄像装置的导线护杆,其一端外壁与调节帽通过紧固螺栓安装在一起,另一端穿过顶盖中间的孔安装在上套筒中的空腔里,并与下套筒螺纹连接,所述调节螺杆中部设有凸起定位环,所述弹簧安装在顶盖与定位环之间的调节螺杆上;所述摄像装置由镜头、支撑体、图像传感器及导线护杆组成,其中:所述支撑体一端与镜头螺纹连接,另一端安装有图像传感器,来自图像传感器的视频信号线、电源线及发光二极管的电源线经与支撑体接触连接的导线护杆至计算机接口及电源。

本实用新型具有如下优点:

与现有技术中采用光学读数显微镜人工读数相比,本实用新型能减轻工作强度、提高整个系统测量精度,其误差小于0.01mm,易于现场操作,满足使用要求。另外,它体积小、操作简单、测量过程有利于计算机自动识别、自动处理,形成的图像质量稳定,能在不同的测量环境下,所测量的图像质量保持一致,无人为误差。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图2为本实用新型一个实施例与底座配合示意图。

图3为本实用新型结构分解图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

如图1所示,它主要由调节装置1、上下套筒2、3、照明装置4、顶盖5、摄像装置7组成,其中:并联的一组发光二极管41安装在一护套42里构成的照明装置4通过紧固盖8与下套筒3螺纹连接,下套筒3内置摄像装置7,位于发光二极管41后方,在下套筒3一端轴向设有导向凹槽31,通过定向销21安装在上套筒2内侧,与其定向滑动连接,一顶盖5与上套筒2螺纹安装在一起,所述调节装置1穿过顶盖5中间的孔、安装在上套筒2中的空腔里,并与下套筒3螺纹连接;

所述调节装置1由调节螺杆11、调节帽12、弹簧13组成,调节螺杆11为管状结构,内置来自摄像装置7的导线护杆74,其一端外壁与调节帽12通过紧固螺栓15安装在一起,另一端穿过顶盖5中间的孔安装在上套筒2中的空腔里,并与下套筒3螺纹连接,所述调节螺杆11中部设有凸起定位环14,所述弹簧13安装在顶盖5与定位环14之间的调节螺杆11上;

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