[实用新型]光存储材料存储特征的测试仪

说明书

技术领域：

本实用新型是一种光存储材料存储特征的测试仪。主要适用的光存储材料是指一次写入光盘(CD-R)、可读写光盘(CD-RW)、高密度一次写入光盘(DVD-R)和高密度可读写光盘(DVD-RW)等等光盘的记录层材料，也可用于其他光点逐点记录的可录和可擦写存储材料。

背景技术：

对光存储材料存储特征进行静态测试，包括确定其写入波长，写入功率、写入脉宽、擦除波长，擦除功率和擦除脉宽与信号对比度以及擦除率的关系，是光存储材料进入实用化之前首先要做的事情。测试结果反映了材料存储性质、制备工艺和成膜工艺的综合影响。在先技术中对光存储材料存储特征进行静态测试是采用了一种磁光盘静态测试仪(参见“磁光盘静态测试仪”，陈仲裕、甘柏辉、刘海清和干福熹，《光学学报》，第11卷，第12期，1991年12月，第1110～1114页)。该测试仪显著的缺陷是：只能采用一个波长的激光进行写入和擦除测试，更换激光波长后，设备就不能使用，除非大幅度改造或重换一台；更换物镜也很麻烦；由于物镜是在被测样品之下，无法添加半球形固体浸润透镜；更无法添加监视调焦过程以及写入和擦除后记录点形貌的光学系统。

发明内容：

本实用新型的光存储材料存储特征的测试仪，包括几大部分，有测试光源部分、测试显示部分、光束写入读出部分、调整被测位置部分、监视显示部分和监视光源。其中测试光源部分：含有激光器6，沿着激光器6发射光束G前进方向的光轴oo上，依次置有声光调制器7，扩束组件8、立方偏光棱镜9、四分之一波片10和分光镜11。分光镜11的分光面与光轴oo成45°角放置。

其中测试显示部分：含有置于通过立方偏光棱镜9分光面的中心点垂直于激光器6发射光束G光轴oo的第一条垂直线o′o′上有会聚透镜12和光电探测器14。光电探测器14的输出通过电子控制箱22连接到带有显示器24的计算机23上。

光束写入读出部分，包括在穿过分光镜11中心点Oo的垂直于激光器6发射光束G光轴oo的第二条垂直线o″o″上，分光镜11反射光束G′前进的方向上置有高数值孔径物镜13和半球形固体浸润透镜15，半球形浸润透镜15的球面向着高数值孔径物镜13，高数值孔径物镜13的焦点落在半球形固体浸润透镜15平面的中心点上。

所说的调整被测位置部分，包括被测样品16放置在内部装有第一限位开关19和第二限位开关20的一维平移台19上，被测样品16的被测记录层表面与半球形浸润透镜15的平面接触，为了减少被测记录层表面与半球形浸润透镜15平面接触处的光损耗，要使两者的表面紧密接触，两者表面之间的最大间距小于150纳米，或者在两表面之间放有折射率油。一维平移台19置于三维平台21上，一维平移台19连接有步进电机17。步进电机17、第一限位开关19和第二限位开关20通过电子控制箱22与计算机23相连。

所说的监视显示部分，包括在上述激光器6发射光束G光轴oo的第二条垂直线o″o″上，在分光镜11反射光束G前进方向的反方向上，由分光镜11开始依次置有半反半透分光镜4、镜筒透镜3和带有监视器2的摄像机1。镜筒透镜3的焦点恰好落在摄像机1的接收面101上。半反半透分光镜4的分光面与第二条垂直线o″o″成45°角放置。

所说的监视光源是白光光源5，白光光源5光轴oo与穿过半反半透分光镜4中心点垂直于第二条垂直线o″o″的垂直线oo重合。它包括自半反半透分光镜4至白炽灯505之间的白光光源5光轴oo上，依次置有照明透镜501、孔径光阑502、视场光阑503和聚焦透镜504。它们的中心均位于光轴oo上。视场光阑503位于照明透镜501的物方焦点处，它控制着监测系统的视场。孔径光阑502控制白光光束G″的口径，所以它控制着监测系统的数值孔径和焦深。如图1所示。

本实用新型的光存储材料存储特征的测试仪如上所述和图1所示的结构。下面结合附图详细描述本实用新型的结构。所说的测试光源部分有激光器6。在激光器6的发射窗口一边，有声光调制器7，声光调制器7的方位应使激光通过它之后衍射的一级衍射光最强。从声光调制器7输出光束前进方向上，依次置有扩束组件8、立方偏光棱镜9、四分之一波片10和分光镜11。扩束组件8的光轴oo与声光调制器7的一级衍射光重合。立方偏光棱镜9、四分之一波片10的中心位于光轴oo上，且它们的入射面与光轴oo垂直。四分之一波片10的快轴方向与激光器6输出的线偏振光的偏振方向成45°角。分光镜11的分光面与光轴oo成45°角，且其中心点Oo位于光轴oo上。