[发明专利]热辅助数据记录方法和记录装置

说明书

发明的领域

本发明涉及一种在磁性介质上的磁轨中以比特的形式记录数据的方法，记录的磁轨具有磁轨宽度并且在磁轨上记录的比特具有比特长度，使用热辅助记录包括在升高的温度下在介质上记录数据，该记录是通过使用产生磁场的写入磁头和光头来实现的，光头在记录期间用来自光头的光局部加热介质，可使介质的矫磁力暂时减少，以便于记录。本发明还涉及沿磁性记录介质上至少一条磁轨以比特的形式记录数据的记录装置，磁轨具有磁轨方向，该装置包括用于产生具有记录位置的剖面的磁场的写入磁头，用于产生记录位置上的光点的光头以产生介质中的热剖面，和用于移动在磁轨上相对于介质的记录位置的激励器。

发明的背景

在近期的传统磁记录中，只使用磁场记录数据，这会阻碍在更高的密度和数据速率的增长。在传统的磁记录中，颗粒介质超顺磁化，将最后限制稳定和低介质噪声的信息记录在大约50-100Gb/in²(Gb/in²＝每平方英寸1千兆＝1.6bit/μm²)。通常相信该区域密度限制将在几年后达到，因为最先进的产品中目前的区域的密度已经接近10Gb/in²并且该年增长率超过60％。‘比特’是在磁轨中具有磁化方向和表示数据的磁轨中的一个区域。

当使用热辅助记录时区域密度的增长原则上是有可能的，其中在室温下具有相对高矫磁力的介质上在升高的温度下执行写操作，给定记录数据相对好的稳定性。室温下高稳定性可得到比传统的磁记录可能达到的更高的区域密度。在写入期间介质的局部加热可使介质的矫磁力暂时降低到使记录可能发生的值。热辅助记录的一个实例是传统的磁光记录方法。该方法依靠光点加热介质从而在磁性介质上记录数据，该光点位于介质在磁轨方向上和与磁轨方向垂直的方向上都受到相对大的磁场作用的位置上。记录的数据使用磁光克尔效应被光学地读出。由磁光记录获得的比特大小受到形成点的光学系统的分辨率的限制，读出数据速率受到读出期间克尔旋转和容许的激光功率的限制。“光”意味着能够由光学系统发射的放射线。通常，光将由激光产生。

热辅助记录的另一种形式是所谓的混合记录。该方法也如所述的一样使用磁场和光点来写数据，例如在参考[1](参考列在说明书的末端)中。在披露的方法中，磁场有垂直于磁轨的最长尺寸的矩形横截面。横截面的最短尺寸确定比特长度，该比特长度是磁轨方向上一个比特的长度。圆形光点的尺寸确定磁轨宽度，它等于比特的宽度。记录的数据通过磁性读出头读出。

发明概述

本发明的目的是提供一种具有改进的区域密度的热辅助记录方法和记录装置。

如果按照本发明的记录方法的特征在于，所述磁轨宽度由磁场的剖面限定，并且所述的比特长度由光在磁性介质上引起的热剖面来限定，就会达到该目的。因为磁场的形状能够与光点的宽度相比小一些，因此磁轨宽度和磁轨的周期能够被减小，从而增加区域密度。该方法适用于混合和磁光记录。

本发明的具体实例最好被用于特征在于激光是脉冲的装置。在该记录方法中的比特转换的清晰度由温度变化率来确定。比特转换的清晰度能够通过使用激光脉冲磁场调制(LP-MFM)来增加，这造成介质中更大的温度变化率。对于LP-MFM，按照被记录的数据流的磁场的调制是与激光的固定频率脉冲相结合。光的脉冲是与磁场调制同步的，其方式是在磁场转换期间产生陡峭的温度变化率。通过使用非常短的激光脉冲和对该激光脉冲写方法热量最佳的介质，能够获得大的温度变化率。在提议的混合记录方案中使用的短脉冲的优势在于比特的热稳定性将进一步增加，因为例如与记录的比特相邻的比特将被暴露到升高的温度下更短的时间。按照本发明的混合记录方法的另一个优势是磁头场变化率不再与写入相关，这允许使用非传统的磁头设计。这些磁头设计能够对亚微细粒的磁轨宽度记录更有吸引力，因为它们造成例如更好的磁轨宽度分辨率。

按照本发明的记录方法形成比传统的磁光记录大大减小的磁场剖面。因此，磁性写磁头能够被使用产生更高的磁场，最好高于30kA/m。通过使用这些更高的写入场，光电中的能量能够减小并且写入将以更低的温度来执行，其中矫磁场Hc更高。更低的写功率还增加比特的热稳定性。

本发明的一个实施例的特征在于，数据读出由通过检测使用磁阻材料(MR)传感器的介质的漏磁场的变化来执行，而本发明的另一个实施例的特征在于，数据读出使用借助于光学传感器的介质的磁光(MO)效应来执行。