[发明专利]制造控制方法

权利要求书

1.一种制造控制方法，包含

对从制造工艺中得到的多个标准试样，得到包含近红外区域的分析区域的吸收光谱，

对所述分析区域内包含的光谱中选择出来的选择波长，算出标准试样的平均强度(标准平均强度)和标准偏差，并建成数据库，

对从制造工艺中得到的分析试样，得到所述分析区域的吸收光谱，

将所得到的吸收光谱与数据库比较，

求出所述选择波长上分析试样吸收光谱的强度(分析强度)对标准平均强度的偏差(分析偏差)，

在包含显示出分析试样吸收光谱的分析偏差在允许值范围之外的分析强度的波长的情况下，将显示出范围外分析偏差的波长与事先数据库化的制造信息对比，得到控制数据，

将所得到的控制数据输入制造工艺中进行控制，从而得到允许值范围内的制品。

2.权利要求1记载的方法，其中，数据库化的制造信息是对应于选择波长的成分信息。

3.权利要求1或2记载的方法，其中，分析强度对标准平均强度的偏差(分析偏差)是根据数据库化的标准试样的标准偏差判断是否在所确定的允许值范围内的。

4.权利要求1～3中任何一项记载的方法，其中，分析区域是800nm～2500nm。

5.权利要求4记载的方法，其中，分析区域是400nm～2500nm。

6.权利要求1～5中任何一项记载的方法，其中，选择波长的间隔是10nm以下。

7.权利要求6记载的方法，其中，选择波长的间隔是2nm以下。

8.权利要求1～7中任何一项记载的方法，其中，吸收光谱是进行微分处理的。

9.权利要求8记载的方法，其中，吸收光谱是进行二次微分处理的。

10.权利要求1～9中任何一项记载的方法，其中，对多种标准试样各用多个样品，算出每一种的标准平均强度和标准偏差，并建成数据库。

11.权利要求1～10中任何一项记载的方法，其中，对多个分析试样得到吸收光谱，求出选择波长上分析试样的平均强度(分析平均强度)对标准平均强度的偏差。