[发明专利]折射能力测定装置

权利要求书

1.一种折射能力测定装置，其特征在于，

具备：为了测定空气中的软性隐形眼镜的光学特性值而将测量光射向被液体浸湿的软性隐形眼镜的测量光学系统；具有接受透过所述软性隐形眼镜的测量光并且输出受光信号的光敏传感器的受光光学系统；输入所述受光信号并且根据所述受光信号计算光学特性值的运算电路；在每个采样时间输入与所述运算电路的光学特性值相度对应的光学特性值数据并且根据所述光学特性值数据通过统计处理计算残差量并输出残差量信号的残差量运算电路；使所述残差量信号延迟所述采样时间的延迟电路；比较由所述延迟电路延迟后的残差量信号与下一残差量信号并且判断下一残差量与延迟后的残差量之差是否在小于许可值的比较电路，

根据所述比较电路的判断结果，求出空气中的光学特性值。

2.如权利要求1所述的折射能力测定装置，其特征在于，

设有设定开关，所述设定开关用于设定测定所述软性隐形眼镜在空气中的光学特性值的测定模式。

3.如权利要求1或2所述的折射能力测定装置，其特征在于，

作为所述测量光束至少接受3点以上的光束，计算所述残差量。

4.一种折射能力测定装置，其特征在于，

具备：为了测定空气中的软性隐形眼镜的光学特性值而将测量光射向被液体浸湿的软性隐形眼镜的测量光学系统；具备接受透过所述软性隐形眼镜的测量光并且输出受光信号的光敏传感器的受光光学系统；输入所述受光信号并且根据所述受光信号计算光学特性值的运算电路；在每个采样时间输入与所述运算电路的光学特性值相对应的光学特性值数据并且根据所述光学特性值数据通过统计处理运算残差量并输出残差量信号的残差量运算电路；存储由所述残差量运算电路计算获得的残差量的存储保存手段；根据保存在该存储保存手段中的残差量而在时序上计算残差量之差并且判断该差是否为规定值的判断手段；根据所述判断手段的判断结果，抽出差为规定值以下的相应的光学特性值并进行显示的显示手段。

5.如权利要求1或4所述的折射能力测定装置，其特征在于，

所述测量光学系统是将用于测定所述软性隐形眼镜的折射能力的环状图案光束通过所述软性隐形眼镜投影到反射面上的图案光束投影光学系统，所述受光光学系统将由所述反射面反射并透过所述软性隐形眼镜而返回的环状图案光束导向所述受光元件，所述图案光束投影光学系统与所述受光光学系统的一部分光学系统为通用，在所述图案光束投影光学系统与所述受光光学系统的通用部分上设有偏转部件，所述偏转部件使得所述环状图案光束相对于所述图案光束投影光学系统的光轴偏转并投影。

6.如权利要求5所述的折射能力测定装置，其特征在于，

所述偏转部件是以所述环状图案光束投影光学系统的光轴为中心旋转的偏转棱镜。

7.如权利要求5所述的折射能力测定装置，其特征在于，

将所述反射面配置在与被检测眼睛的眼底共轭的位置上，在去除所述反射面的状态下，可以用所述环状图案光束投影光学系统与所述受光光学系统测定所述被检测眼睛的折射能力。

8.如权利要求5～7任意一项所述的折射能力测定装置，其特征在于，

在测定所述软性隐形眼镜的光学特性时，将所述偏转部件插在不与所述软性隐形眼镜的设置位置共轭的位置上。

9.一种折射能力测定装置，其特征在于，

具备：为了测定空气中的软性隐形眼镜的光学特性值而将测量光束射向镜片的测量光学系统；具有接受透过所述镜片的测量光并且输出受光信号的光敏传感器的受光光学系统；输入所述受光信号并且根据所述受光信号计算光学特性值的计算光学系统，所述测量光学系统是将用于测定所述镜片的折射能力的环状图案光束通过所述镜片投影到反射面的图案光束投影光学系统，所述受光光学系统将由所述模型眼的眼底反射并透过所述镜片返回的环状图案光束导向所述受光元件，所述图案光束投影光学系统与所述受光光学系统的一部分光学系统为通用，在所述图案光束投影光学系统与所述受光光学系统的通用部分上设有偏转部件，所述偏转部件使得所述环状图案光束相对于所述图案光束投影光学系统的光轴偏转并投影，该偏转部件是以光轴为中心旋转的偏转棱镜。

10.如权利要求9所述的折射能力测定装置，

当测定所述镜片的光学特性时，将所述偏转棱镜插在不与所述透镜的设置位置共轭的位置上，以此使得图案光束在镜片面上摇动。