[发明专利]对准光学测量系统的光学部件无效

专利信息
申请号: 01802629.X 申请日: 2001-07-11
公开(公告)号: CN1388891A 公开(公告)日: 2003-01-01
发明(设计)人: 戴维·罗伯茨·姆克莫特瑞;本杰明·罗勒·泰勒;马克·阿德里安·文森特·查普曼 申请(专利权)人: 瑞尼斯豪公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 武玉琴,朱登河
地址: 英国格*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 对准 光学 测量 系统 部件
【权利要求书】:

1.一种用于机器的光学测量系统,包括两个壳体,安装在所述机器的两个相对运动的部件上,每个壳体在其至少一个表面上设有一个安装装置的互补部分,该安装装置使得当安装装置的所述两个部分连接在一起时,壳体互相对准并且与机器部件的一个已知相对运动方向对准。

2.如权利要求1所述的光学测量系统,其中安装装置为一个运动支架,包括相应壳体上的互补运动支座。

3.如权利要求1或权利要求2所述的光学测量系统,其中各壳体包含有光学测量系统的光学部件,所述光学部件预先设置在相应壳体中,使得当安装装置的两个部分连接在一起时所述两个壳体中的光学部件互相正确地对准。

4.如前面任一权利要求所述的光学测量系统,其中至少一个壳体上设有使其关于三个正交旋转轴线中至少一个的取向能够在有限范围内变换的可调连接器。

5.如权利要求4所述的光学测量系统,其中所述可调连接器使得其所连接的壳体的取向能够在三个正交轴线中变换。

6.如权利要求1所述的光学测量系统,其中所述壳体之一通过定位元件安装在机器上一个基座上的固定位置中,该基座本身可调节地安装在机器底座上。

7.如权利要求6所述的光学测量系统,其中所述定位元件构成基座上的运动支架部件。

8.如权利要求1所述的光学测量系统,其中所述壳体之一通过三个定位元件直接安装在机器底座上,该三个定位元件构成运动支架。

9.如权利要求8所述的光学测量系统,其中所述三个定位元件是可调节的。

10.如权利要求1所述的光学测量系统,其中所述壳体之一通过一定位在机器上的单个球体安装在机器上,该球体与所述壳体中的一个杯帽啮合。

11.如权利要求10所述的光学测量系统,其中所述球体和杯帽由磁力推压啮合。

12.如权利要求10所述的光学测量系统,其中所述球体安装在机器上的一个固定基座结构上。

13.如权利要求10所述的光学测量系统,其中所述球体安装在机器上的一个可调节支架上。

14.如权利要求1至3任一所述的光学测量系统,其中所述两个壳体构成一个球杆的两个部分。

15.一种对准机器上光学测量系统光学部件的方法,所述系统包括两个含有测量系统光学部件的壳体,该方法包括如下步骤:

在各壳体的至少一个表面上设置一个安装装置的互补部分,该安装装置的互补部分设置成使得当所述互补部分连接在一起时所述壳体相互对准并且与相对机器的一个已知方向对准,

将所述两个壳体安装在机器的相对运动部件上,至少一个壳体通过可调节连接器安装,

将所述壳体之一与所述相对机器的已知方向对准,并且将所述安装装置的互补部分啮合同时使得所述可调节连接器能够调节。

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