[发明专利]分析元件、使用了该元件的测定器及基质的定量方法有效
申请号: | 01804836.6 | 申请日: | 2001-12-11 |
公开(公告)号: | CN1401076A | 公开(公告)日: | 2003-03-05 |
发明(设计)人: | 谷池优子;池田信;南海史朗 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01N27/327 | 分类号: | G01N27/327 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 胡烨 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分析 元件 使用 测定 基质 定量 方法 | ||
1.分析元件,其特征在于,具备储存试样的空腔、暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。
2.如权利要求1所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件为穿刺部件。
3.如权利要求1或2所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件是透明的。
4.如权利要求1~3中任一项所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件兼作工作电极或配极。
5.如权利要求1~4中任一项所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件具备试剂层。
6.分析元件,其特征在于,具备在前端部近旁的侧面具有储存试样的凹部、由配有暴露于该凹部内的工作电极和配极的绝缘部件构成的棒状元件主体,可覆盖元件主体的具有前述凹部的面、在面向前述凹部的部分具有沿前述元件主体的长度方向形成的沟的盖板,在前述凹部内或其近旁形成的至少含有氧化还原酶的试剂层,以及在前述沟内沿元件主体的长度方向移动、从元件主体的前端突出穿刺被检体的穿刺部件;元件主体的前端部和盖板之间形成了连通前述凹部的试样供给用开口部,盖板上的与前述凹部相对应的位置或其上方的位置上形成了空气孔,穿刺部件基本能够覆盖前述凹部。
7.分析元件,其特征在于,具备元件主体、在给料通道内形成的至少含有氧化还原酶的试剂层及上盖板;前述元件主体由设有包含工作电极和配极的电极系统的绝缘性基板,以及覆盖该基板、与基板一起在它们之间形成通向前述电极系统的给料通道的盖板部件构成;前述给料通道从元件主体前端的给料口与设于盖板部件的空气孔连通,上盖板沿垂直于元件主体的方向滑动籍此与元件主体相连,在与元件主体粘合时前述给料口及空气孔紧锁。
8.测定器,其特征在于,具备分析元件、在工作电极和配极间施加电压的电压施加装置、对施加了电压的工作电极和配极间的电信号进行检测的信号检测装置,通过电化学方法对待检试样中所含基质与氧化还原酶的反应量进行检测,籍此对基质进行定量;前述分析元件具备储存试样的空腔,暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。
9.如权利要求8所述的测定器,其中,覆盖分析元件的开口部的部件可随意装卸。
10.基质的定量方法,其特征在于,包括以下步骤:准备分析元件的步骤,将待检试样供给前述分析元件使待检试样中所含基质与氧化还原酶反应的步骤,塞紧开口部的步骤,在工作电极和配极之间施加电压的步骤,以及检测工作电极和配极之间因施加电压而产生的电信号的变化情况的步骤;前述分析元件具备储存试样的空腔,暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。
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