[发明专利]分析元件、使用了该元件的测定器及基质的定量方法有效

专利信息
申请号: 01804836.6 申请日: 2001-12-11
公开(公告)号: CN1401076A 公开(公告)日: 2003-03-05
发明(设计)人: 谷池优子;池田信;南海史朗 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01N27/327 分类号: G01N27/327
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 胡烨
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 分析 元件 使用 测定 基质 定量 方法
【权利要求书】:

1.分析元件,其特征在于,具备储存试样的空腔、暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。

2.如权利要求1所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件为穿刺部件。

3.如权利要求1或2所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件是透明的。

4.如权利要求1~3中任一项所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件兼作工作电极或配极。

5.如权利要求1~4中任一项所述的分析元件,其中,覆盖开口部的部件具备试剂层。

6.分析元件,其特征在于,具备在前端部近旁的侧面具有储存试样的凹部、由配有暴露于该凹部内的工作电极和配极的绝缘部件构成的棒状元件主体,可覆盖元件主体的具有前述凹部的面、在面向前述凹部的部分具有沿前述元件主体的长度方向形成的沟的盖板,在前述凹部内或其近旁形成的至少含有氧化还原酶的试剂层,以及在前述沟内沿元件主体的长度方向移动、从元件主体的前端突出穿刺被检体的穿刺部件;元件主体的前端部和盖板之间形成了连通前述凹部的试样供给用开口部,盖板上的与前述凹部相对应的位置或其上方的位置上形成了空气孔,穿刺部件基本能够覆盖前述凹部。

7.分析元件,其特征在于,具备元件主体、在给料通道内形成的至少含有氧化还原酶的试剂层及上盖板;前述元件主体由设有包含工作电极和配极的电极系统的绝缘性基板,以及覆盖该基板、与基板一起在它们之间形成通向前述电极系统的给料通道的盖板部件构成;前述给料通道从元件主体前端的给料口与设于盖板部件的空气孔连通,上盖板沿垂直于元件主体的方向滑动籍此与元件主体相连,在与元件主体粘合时前述给料口及空气孔紧锁。

8.测定器,其特征在于,具备分析元件、在工作电极和配极间施加电压的电压施加装置、对施加了电压的工作电极和配极间的电信号进行检测的信号检测装置,通过电化学方法对待检试样中所含基质与氧化还原酶的反应量进行检测,籍此对基质进行定量;前述分析元件具备储存试样的空腔,暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。

9.如权利要求8所述的测定器,其中,覆盖分析元件的开口部的部件可随意装卸。

10.基质的定量方法,其特征在于,包括以下步骤:准备分析元件的步骤,将待检试样供给前述分析元件使待检试样中所含基质与氧化还原酶反应的步骤,塞紧开口部的步骤,在工作电极和配极之间施加电压的步骤,以及检测工作电极和配极之间因施加电压而产生的电信号的变化情况的步骤;前述分析元件具备储存试样的空腔,暴露于前述空腔内的工作电极和配极、设于前述空腔内或其近旁的至少含有氧化还原酶的试剂层、与前述空腔连通的开口部及覆盖前述开口部的部件。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/01804836.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top