[发明专利]测试集成电路晶片和晶片测试器间信号通路的方法和设备无效
申请号: | 01810946.2 | 申请日: | 2001-03-27 |
公开(公告)号: | CN1436307A | 公开(公告)日: | 2003-08-13 |
发明(设计)人: | R·G·惠藤;B·N·埃尔德里奇 | 申请(专利权)人: | 佛姆法克特股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/316 | 分类号: | G01R31/316;G01R35/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 李玲 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 集成电路 晶片 信号 通路 方法 设备 | ||
【权利要求书】:
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