[发明专利]用来确定物体微起伏和表层的光学性质的方法、一种用于该方法实现的调制显微镜无效
| 申请号： | 01822011.8 | 申请日： | 2001-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN1486444A | 公开（公告）日： | 2004-03-31 |
| 发明（设计）人： | 弗拉基米尔·安德列维奇·安德列夫;康斯坦丁·瓦西里耶维奇·英杜卡耶夫;巴维尔·亚里别尔托维奇·奥西波夫 | 申请（专利权）人： | 阿姆弗拉实验室有限责任公司 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 冯谱 |
| 地址： | 俄罗斯联*** | 国省代码： | 俄罗斯;RU |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用来 确定 物体 起伏 表层 光学 性质 方法 一种 用于 实现 调制 显微镜 | ||
【说明书】：
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