[发明专利]测量眼镜片或接触透镜的性能的透镜检测仪

说明书

发明领域

本发明涉及根据权利要求1的测量眼镜片或接触透镜的性能的透镜检测仪。

现有技术

当用手动透镜检测仪测量镜片的性能时，可通过目测获得或是借助仪器来得到图像聚焦平面。包括待检镜片的光学系统中各元件的沿光轴的相对位置和和待检镜片与具有光源的光学系统之间的距离被改变，而且由得到该图像聚焦平面所需要的元件的移动距离和待检镜片与具有光源的光学系统之间的距离来获得焦距。但是，通过目测得到该图像聚焦平面的方法存在的不足之处在于，因不同的观测者而导致的测量误差趋于增加。

为了克服手动透镜检测仪的上述不足，日本专利申请公开NOS.昭49(1974)-122355、昭60(1985)-17355和平8(1996)-20334均披露了自动透镜检测仪。日本专利申请公开NO.昭49(1974)-122355所公开的一种透镜检测仪包括以手动方式安装待检测的透镜，使该待检透镜的光学中心置于发送光的准直透镜和接收光的准直透镜的光轴上；用于摄像的光学系统，该光学系统具有设置在沿上述光轴的延长线的聚焦平面上的光电转换器；设置一目标像的亮度信号和计算某一位置的电路，该目标像是通过光电转换器的扫描线还原而成的，该位置处的具有光源的光学系统的一个方向的运动和另一个方向的运动间的电亮度信号的时间宽度区域被最小化；和通过脉冲马达和用于驱动该脉冲马达的信号发生器自动控制具有光源的光学系统的往复运动的电路与上述电路同步。具有最小区域目标像的位置被转换成一以屈光度表示的信号。

在自动透镜检测仪中，包括有日本专利申请公开NOS.昭49(1974)-122355、昭60(1985)-17355中描述的自动透镜检测仪，必须具有检测最佳位置的装置和设置用于移动目标的机构。因此，需要作一些改进以使待检透镜的折射率、轴线的角度和棱镜值(prism values)可以通过设置在成象透镜的聚焦面上的图像传感器的信号的处理进行测量而不用移动狭缝图案。日本专利申请公开NO.平8(1996)-20334描述的自动透镜检测仪中简化了这一结构。

在日本专利申请公开NO.昭60(1985)-17355描述的自动透镜检测仪中，在接收光线的物镜的后面把用于测量的光线分成两组。由待检透镜偏离的测量光线的距离用两个图像传感器测得且通过所得到的数据的计算得到折射光焦度。由于经过待检透镜后的测量光线被分成了两组光线即，X方向光线组和Y方向光线组，且被发射到图像传感器，所以使得发射到每个图像传感器上的光信号的数量减少到原来信号数量的一半或更少。因此，必须进行提高S/N比的特殊的电处理且电路变得复杂和成本高。

另外，由于必须设置用于分开光线的分束器和两个图像传感器，所以光路、两个图像传感器和用于设置这些部件的部分不可避免地使装置复杂且成本高。

在日本专利申请公开NO.平8(1996)-20334描述的自动透镜检测仪中，由待检透镜分开的在X方向和Y方向的测量光线偏心的距离由一设置在用于接收光线的物镜后面的单一的图像传感器测得且折射光焦度可以通过计算已得到的数据来获取。一具有“N”形狭缝的图案被用于测量。因此，相对于图像传感器倾斜设置的部分被用于Y方向检测且产生了位置信息精度下降的问题。

发明概述

本发明已经解决了上述问题，其目的是提供一种结构简单且测量精度高的自动透镜检测仪。

本发明的目的由权利要求1的特征来解决。

本发明的改进实施例由从属权利要求得到。

本发明提供：

一种自动透镜检测仪，包括一光学系统，在该光学系统中，通过投影由图案产生元件产生的图案而形成一图案的像，且根据该图案的像从光学系统的光路中没有待检透镜处到光路中具有待检透镜处位移的信息，测量待检透镜的光学性能，所述自动透镜检测仪包括：

多个光源，设置在垂直于光轴的平面上的与光学系统的光轴等距离隔开的位置处；

一光转换透镜，以其光轴与光学系统光轴相同的方式布置并将来自光源的光线转换成平行光线；

一测量台，在其上将待检透镜设置在来自光转换透镜的光路中；

一准直透镜，经该准直透镜使来自光转换透镜的光线通过且在测量台上设置的待检透镜上形成多个光源的像；

一图案产生元件，设置在光转换透镜和准直透镜之间；

一用于接收光线的物镜，其在指定的图案像形成平面上形成由图案产生元件产生的图案的图案像；

一些线性传感器，设置在图案像形成平面上；

其中：