[发明专利]具有高介电常数的复晶硅栅间介电层的结构及其形成方法有效
申请号: | 02106071.1 | 申请日: | 2002-04-10 |
公开(公告)号: | CN1450654A | 公开(公告)日: | 2003-10-22 |
发明(设计)人: | 林友民;侯拓宏 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L27/10;H01L21/283;H01L21/316 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李强 |
地址: | 台湾省新竹科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 介电常数 复晶硅栅间介电层 结构 及其 形成 方法 | ||
【权利要求书】:
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