[发明专利]光盘装置无效
申请号: | 02107482.8 | 申请日: | 2002-03-20 |
公开(公告)号: | CN1383138A | 公开(公告)日: | 2002-12-04 |
发明(设计)人: | 真下著明 | 申请(专利权)人: | 提阿克株式会社 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09;G11B7/12 |
代理公司: | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 装置 | ||
技术领域
本发明有关于一种光盘装置,且特别是有关于一种能够对光盘片进行数据记录之光盘装置。
背景技术
记录型光盘可分为只写一次(Write Once)型光盘与可抹写(Erasable)型光盘。只写一次型光盘CD-R(Compact Disk Recordable)与可抹写型光盘CD-RW(Rewritable)内设置有导引(Guide)用沟(Groove)。此沟在中心频率22.5kHz下以非常小的半径方向波动(Wobble)(蛇行),并以称为预沟内绝对信息时间(Absolute Time InPregroove,ATIP)的记录时地址信息在最大位移±1kHz中通过移频键控(Frequency Shift Keying,FSK)变换而进行多重记录。
进行此种记录型光盘的记录再生处理的光盘装置中的寻轨(Tracking)与聚焦服务器(Focus Servo)电路可通过照射光束至光盘上,并利用多个光检测器检测出光盘的反射光,经过一定的运算产生寻轨错误(Tracking Error)信号后,再根据上述信号驱动寻轨促动器(Tracking Actuator)。
在此,就可对只写一次型光盘CD-R进行记录再生的光盘装置而言,进行再生时是以读取功率(Read Power)作为光束功率(BeamPower),进行记录时光束功率则根据记录信号的值0、值1所对应的写入功率与读取功率(写入功率>读取功率)而交互变化。因此,当然在进行再生时或记录时,可通过取样保持(Sample Hold)光束功率为读取功率时的反射光,以生成寻轨错误信号。
此外,就可对可抹写型光盘CD-RW等进行记录再生的光盘装置而言,进行记录时光束功率系根据记录信号的值0、值1所对应的写入功率与抹除功率(写入功率>抹除功率>读取功率)而交互变化。
因此,在进行再生时,可通过检测光束功率为读取功率时的反射光生成寻轨错误信号。在进行记录时,可通过取样保持光束功率为抹除功率时的反射光生成寻轨错误信号。
在此,为写入功率时的反射光对于记录区域(CD-R为坑洞、CD-RW为标记)所造成的影响为无法得到安定的反射光。
差动推挽(Push-Pull)法为寻轨控制方式的一种。如图9所示,差动推挽法是在构成轨道n的沟1中照射主(Main)光束点(Spot)2,同时也会在沟1的宽度方向只往相反方向位移一定长度而照射先行的次光束点3与后续的次光束点4。此主光束点2的反射光束可在沟1宽度方向分割成两部分,并可由图10所示的光检测器10A、10B检测出。先行的次光束点3的反射光束可在沟1宽度方向分割成两部分,并可由图10所示的光检测器12A、12B检测出。后续的次光束点4的反射光束可在沟1宽度方向分割成两部分,并可由图10所示的光检测器14A、14B检测出。而且,为了配合光检测器10A、10B、12A、12B、14A、14B而在图9的光束点2、3、4内给予符号A、B。
图10为使用差动推挽法的公知寻轨错误信号生成电路的一例电路结构图。在图10中,光检测器10A、10B各自的检测信号通过取样?保持电路16供给至减法电路20的非反转输入端子与反转输入端子。减法电路18输出的差信号再供给至减法电路20的非反转输入端子。此外,取样·保持电路16在读取功率的时序或抹除功率的时序取样光检测器10A、10B、12A、12B、14A、14B各自的检测信号,并在写入功率的期间保持光检测器10A、10B、12A、12B、14A、14B各自的检测信号。
光检测器12A、12B各自的检测信号经过取样·保持电路16供给至加法电路22、24一方的输入端子,光检测器14A、14B各自的检测信号经过取样·保持电路16供给至加法电路22、24另一方的输入端子。加法电路22将供给的两个信号相加后,并供给至减法电路26的非反转输入端子;加法电路24将供给的两个信号相加后,并供给至减法电路26的反转输入端子。为了进行差动推挽法,减法电路26的输出差信号以增幅器28增幅例如是增益k后,供给至减法电路20的反转输入端子。
减法电路20的输出误差信号供给至加法器30中,并在加法器30中加上来自切换开关32所供给的再生时偏差或记录时偏差,然后从端子34输出寻轨错误信号。通过使上述寻轨错误信号为零而控制寻轨,以使主光束点2追踪沟1并进行寻轨。
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