[发明专利]图形对照装置及其图形对照方法

说明书

技术领域

本发明涉及图像数据的对照，特别是涉及用于识别线状图样如指纹和字符的图形对照装置及其图形对照方法。

背景技术

就识别线状图样如指纹和字符的常规装置而言，在日本专利公报No.平10-240932和日本专利公报No.平10-105703中提出了一些技术，其中，利用特征点如线条的端点和分岔点，有关的特征点被获取并被相互重叠起来进行比较。

一些常规技术，其中，图样的变形被校正以便比较图像，已在日本专利公报No.平02-187885，日本专利公报No.平05-081412，日本专利公报No.平06-004671，日本专利公报No.平08-030783和日本专利公报No.平08-147411中被提出。

但是，常规技术有下面的缺点。

在日本专利公报No.平10-240932和日本专利公报No.平10-105703中陈述的技术有一个问题，因为这些技术使用一个系统，对相互重叠作为一个整体的图样进行比较，在加印时字符被变形或指纹被变形的情况下，图形不能被良好地鉴别。

另一方面，根据日本专利公报No.平02-187885，日本专利公报No.平05-081412，日本专利公报No.平06-004671，日本专利公报No.平08-030783和日本专利公报No.平08-147411中陈述的常规技术，即使当图样被变形时，如果图样作为一个整体有同样的变形，那么，作为整体校正图样的变形并对变形进行比较，能使这类图样问题被对付过去。但是，在每一部分有不同的变形方式的情况下，可容许的差别应该会增加，而引起不精确的鉴别。

发明内容

本发明的目的是解决上述常规问题，提供一种线状图样的图形对照装置，它能严格鉴别外加的图样，即使图样被变形，并提供有关的图形对照方法。

即使待检验的图形被变形，本发明也能使作为检验对象的待检验图样，和用以据其图样进行比较的模型图样，相互严格地被鉴别，所用的方法是根据适用的待检验图样特征点信息和适用的模型图样特征点信息，估算在待检验图样中产生的变形，校正估算的变形，并比较变形已被校正的待检验图样和模型图样，计算它们之间的相似性。

根据本发明的第一方面，一种图形对照装置，用于比较和对照待检验图样和用以据其图样进行比较的模型图样，包括：

变形估算装置，其用于根据有关表示每个上述待检验图样和用以据其图样进行比较的模型图样特征的特征点的信息，估算在待检验图样中产生的变形；和

变形校正装置，其用于根据有关由变形估算装置所估算的变形的信息，校正上述待检验图样。

在优选的结构中，变形的估算装置，使待检验图样和模型图样中的特征点关联和配为对偶，在这两个图样之间表示出特征点的特征度的特征量中的差异是小的；并确定在各自的特征点之间相符性最好的待检验图样的变形内容，以估算在上述待检验图样中产生的变形。

在另一优选结构中，变形估算装置，从多个预先准备的表示图像数据变形内容的变形模型中，选择待检验图样的变形内容，这些变形内容最好地使在待检验图样和模型图样各自的特征点之间相符。

在另一优选结构中，变形估算装置，其具有变形模型的信息，这个变形模型表示相应于各个参数指定值的图像数据的变形内容；并通过获得提供变形模型的每个参数值，确定待检验图样的变形内容，上述变形模型最好地使待检验图样和模型图样各自的特征点之间相符。

在另一优选结构中，变形估算装置，在处理所估算的变形时，在除去那些相互偏离的距离等于或大于预定阈值的被配为对偶特征点以后，仅用留下来的特征点对偶重新估算变形。

在另一优选结构中，变形估算装置，在所估算的变形的尺度大于预定阈值时，改变上述变形模型，重新估算变形。

另一优选结构中，变形估算装置，在估算作为一个整体的待检验图样的变形以后，分割上述待检验图样为小区域，以估算在每个小区域上的变形内容。

在另一优选结构中，变形估算装置，在估算作为一个整体的待检验图样的变形以后，就每个上述特征点对偶，利用邻近的特征点对偶的信息，估算并校正邻近的特征点对偶的变形。

在另一优选结构中，关于变形模型，使用弹性变形，关于表示变形尺度的数据，使用弹性能量。

在另一优选结构中，关于待检验图样和模型图样，至少使用指纹图像，或者掌纹图像。

根据本发明的第二方面，一种用于比较待检验图样和据其图样进行比较的模型图样，以校正变形的变形校正装置，包括：