[发明专利]光头和光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及对光盘进行信息记录或再生的光头和光盘装置，尤其涉及检测其光盘的透明衬底的厚度的光头和光盘装置。

背景技术

众所周知，光盘具有在透明衬底和硬质保护层之间夹有记录再生面的结构。且从光头射出的聚焦光束透过透明衬底照在记录再生面上。由此，向记录再生面上记录信息或从记录再生面上再生信息。

一般地，聚焦光束透过的透明衬底的厚度因制造偏差等而不均匀，有数十微米左右的厚度误差。而且，聚焦光束透过有厚度误差的透明衬底照到记录再生面上时，因球面象差使记录再生面上的光斑形状变化。

由此，向记录再生面上记录的信息的记录密度或从记录再生面上再生的信息的再生精度劣化，难以对光盘进行正确且稳定的记录和再生。

因此，为了对光盘进行正确且稳定的记录和再生，必须在光头内部附加对因透明衬底的厚度误差产生的球面象差进行补正的功能，使球面象差在允许值范围内。而且，在进行这样的球面象差的补正时，必须正确地检测产生的球面象差，或作为原因的透明衬底的厚度。

作为检测透明衬底的厚度的方法，有例如日本专利特开2000-76665号公报中记载的方式。即，通过在光头上附加产生用来检测透明衬底的厚度的光束的单元和检测该光束的单元，来检测透明衬底的厚度。具体地讲，改变物镜中心区域的曲率，利用通过物镜的光束的中心附近来检测透明衬底的厚度。

或者，利用在光路中配置的全息元件的一次折射光检测透明衬底的厚度。为此，把记录再生面上的反射光和透明衬底上的反射光导入检测用全息片，分割成处理再生信号和聚焦误差信号等的光束和用来检测透明衬底厚度的光束，用光检测器检测出各光束并进行运算处理。

该运算处理得到从记录再生面反射的光导致的聚焦误差信号、和在从透明衬底表面反射的光得到的信号上乘上一预定比例系数后得到的信号的差分，以该差分信号作为检测透明衬底的厚度的信号。

但是，在改变物镜的中心区域的曲率的方式中，由于照射到记录再生面之前的光束的光路和从记录再生面反射后的光束的光路不同，信号的分离困难，存在难以得到正确的透明衬底的厚度检测信号的问题。

另外，由于用具有折射效果的全息元件分割从记录再生面上反射的光和从透明衬底表面上反射的光，会生成透明衬底的厚度误差的检测范围局限于与聚焦误差信号相同的检测范围的不满意的情况。

另一方面，在以在光路中配置的全息元件得到的一次折射光作为用来检测透明衬底厚度的光束的方式中，由于在向光盘照射光束时和从光盘反射光束时分别产生0次折射光和高次折射光，所以还存在信号的分离困难的问题。

如上所述，在现有的检测透明衬底的厚度的方法中存在着，难以分离从透明衬底反射的光和从透明衬底表面反射光，以及透明衬底的厚度误差检测范围局限于与聚焦误差信号相同的检测范围的问题。

发明概述

本发明正是鉴于上述情况而提出的，其目的在于提供这样的光头和光盘装置，即，可以正确地分离从记录再生面反射的光和从透明衬底表面反射的光，与聚焦误差信号的检测范围无关地设定透明衬底的厚度误差的检测范围，可以进行正确的透明衬底的厚度误差的检测。

根据本发明的一个方面，提供一种光头，用来在把从光源发生的光束经物镜聚在光盘上的同时，把从上述光盘反射的、经物镜入射的光束转换成电信号，其特征在于包括：

第一光学系统，把从上述光源发出的光束经第一全息片导入到上述物镜上，上述第一全息片包含不具有折射作用的第一区和具有折射作用的第二区；

第二光学系统，把上述光盘反射的经上述物镜入射的光束导引到第二全息片，上述第二全息片把上述光束分离成通过上述第一全息片的上述第一区的第一光束一和通过上述第一全息片的上述第二区的第二光束；以及

把由上述第二全息片分离的第一和第二光束分别转换成电信号的光检测器。

根据本发明的另一个方面，提供一种光盘装置，其特征在于包括：

光头，该光头具有：

第一光学系统，把从上述光源发出的光束经第一全息片导入到上述物镜上，上述第一全息片包含不具有折射作用的第一区和具有折射作用的第二区；

第二光学系统，把上述光盘反射的经上述物镜入射的光束导引到第二全息片，上述第二全息片把上述光束分离成通过上述第一全息片的上述第一区的第一光束和通过上述第一全息片的上述第二区的第二光束；和

把由上述第二全息片分离的第一和第二光束分别转换成电信号的光检测器；以及