[发明专利]多点测厚计有效

专利信息
申请号: 02119825.X 申请日: 2002-02-28
公开(公告)号: CN1378067A 公开(公告)日: 2002-11-06
发明(设计)人: 贺川武 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 多点 测厚计
【权利要求书】:

1、一种多点测厚计,其特征在于:具有放射线源、电离箱,并配置有获得与从上述放射线源放射后透过被测定物入射的放射线的大小相关的输出信号的检测单元、和根据该检测单元的输出信号计算上述被测定物厚度的计算单元,上述电离箱相对于上述被测定物的流动方向可以任意角度旋转地配置起来。

2、如权利要求1所述的多点测厚计,其特征在于:上述计算单元输入由测定上述被测定物宽度的测定单元测定的宽度值,计算上述被测定物的边缘位置或中心位置,可以根据上述检测单元的输出信号计算的厚度确定离上述被测定物的边缘位置或中心位置的位置。

3、如权利要求1所述的多点测厚计,其特征在于:上述计算单元输入来自检测上述被测定物的边缘的单元的输出信号,计算上述被测定物的边缘位置,可以根据上述检测单元的输出信号计算的厚度确定离上述被测定物的边缘位置的位置。

4、如权利要求1所述的多点测厚计,其特征在于:上述计算单元输入来自外部装置的中心偏差量,计算上述被测定物的中心位置,可以根据上述检测单元的输出信号计算的厚度确定离上述测定物的边缘位置的位置。

5、如权利要求1所述的多点测厚计,其特征在于:上述电离箱配置在包含目标测定位置的规定范围的位置上,上述计算单元输入来自测定上述被测定物宽度的测定单元或检测上述被测定物的检测单元或外部装置的输出信号,在求出上述被测定物的蛇行量同时,求出用于根据多个测定位置的厚度值计算测定位置间的厚度值的插补函数,根据上述插补关系计算离开上述目标测定位置的上述蛇行量偏离的位置的厚度值。

6、如权利要求1所述的多点测厚计,其特征在于:上述电离箱是放射线从圆筒的侧面入射的结构,利用上述电离箱的全长和与上述电离箱侧壁的壁厚乘以安全系数求出的不敏感带的值,确定使上述不敏感带消失时,相对于上述被测定物的流动方向的上述电离箱的转动角度。

7、如权利要求1所述的多点测厚计,其特征在于:是放射线从圆筒的侧面入射的构造,利用上述电离箱的全长、上述电离箱内径和相对于上述电离箱中心部的气体量的比求出的不敏感带的值,确定使上述不敏感带消失时,相对于上述被测定物的流动方向的上述电离箱的转动角度。

8、如权利要求1所述的多点测厚计,其特征在于:是放射线从圆筒的侧面入射的结构,利用上述电离箱的全长、上述电离箱外径和气体充满系数求出的不敏感带的值,确定使上述不敏感带消失时,相对于上述被测定物的流动方向的上述电离箱的转动角度。

9、如权利要求1至8中的任一项所述的多点测厚计,其特征在于:在相邻的两个上述电离箱之间插入门槛值板。

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