[发明专利]维修决策方法与使用其的半导体元件电性测试系统有效
| 申请号： | 02119842.X | 申请日： | 2002-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN1458606A | 公开（公告）日： | 2003-11-26 |
| 发明（设计）人： | 郭仲仁;薛国强;简祯富;吴吉政 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/60 | 分类号： | G06F17/60 |
| 代理公司： | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 台湾省新竹科*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 维修 决策 方法 使用 半导体 元件 测试 系统 | ||
【说明书】：
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