[发明专利]一种识别光盘类型的方法无效
申请号: | 02121510.3 | 申请日: | 2002-05-15 |
公开(公告)号: | CN1392554A | 公开(公告)日: | 2003-01-22 |
发明(设计)人: | 李匡镐 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B19/12 | 分类号: | G11B19/12;G11B7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 王志森,黄小临 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 识别 光盘 类型 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种识别光盘类型的方法,尤其是识别出光盘是单层光盘还是双层光盘,在该方法中将光盘反射的高频信号电平与按照该光盘特性设置的参考值进行比较。
背景技术
通常,光学记录介质(例如光盘CD、数字通用光盘DVD)的直径为几英寸,厚度为1.2毫米,有一个反射面作为数据记录层,以反射面上的凹坑的形式存储例如声音、文本和图形等信息。光学记录介质存储数据的能力比传统的磁性记录介质——软盘高几百倍,一张软盘大概可以约存储2M数据。随着超高密光盘的发展,已经开发出用于高速无错读取记录在超高密光盘上的数据的设备。
再现记录在各种类型的光盘上的数据的设备已经开发出来,因此用户可以不用局限于一种类型的光盘。
通常,光盘包括CD和DVD。DVD又包括DVD-S和DVD-D。这里,CD包括存储音频数据的CD和既存储音频数据又存储视频数据的CD。而DVD中,DVD-S是按照单层在轨道上只记录一组数据,DVD-D是按照双层在轨道上记录两组数据。
在现有技术中,为了区别单层光盘和双层光盘,当预定(固定)参考值与该光盘反射的预定第一和第二高频信号电平进行比较并确定参考值大时,将该光盘识别为双层光盘。当预定(固定)参考值与预定第一和第二高频信号电平相比较并确定参考值小时,将该光盘识别为单层光盘。
但是,与反射系数相关的第一和第二高频信号电平随着在从光盘再现数据期间工作的拾取器敏感度不同而降低。这样就导致很难精确识别光盘类型,进而很难平稳地从光盘再现数据。
发明内容
为了解决上述问题,本发明的目的是提供一种识别光盘类型的方法,在该方法中将光盘反射的高频信号电平与按照该光盘特性设置的参考值进行比较。
因此,为了实现上述发明目的,本发明提供了一种识别光盘类型的方法。该方法包括以下步骤:(a)检测来自光盘的预定第一高频信号电平并设置预定参考值,(b)检测按照光盘类型不同地产生的预定第二高频信号的电平,(c)将参考值和第二高频信号电平进行比较并识别出光盘类型。
在步骤(a)中最好通过对第一高频信号和预先设置的比率执行一种算术运算来设置参考值,按照光盘特性不同设置设置比率。另外,在步骤(c)中最好当参考值大于第二高频信号电平时将光盘识别为单层光盘,而在参考值小于第二高频信号电平时将光盘识别为双层光盘。
附图说明
下面将结合附图详细说明本发明的一个最佳实施例,将使本发明的上述目的和优点变得更加明显,附图包括:
附图1:用于识别光盘类型的设备的框图;
附图2:本发明中用于识别光盘类型的方法的流程图。
具体实施方式
参照附图1,附图1是用于识别光盘类型的设备的框图。参见附图1,该设备包括光拾取器10、高频放大器11、微计算机(MICOM)12,存储器13、伺服机构14和致动机构驱动器15。
附图2是说明本发明中用于识别光盘类型的方法的流程图。
附图2所示流程图包含步骤:检测第一高频信号电平,第一信号电平用于识别光盘的类型(步骤20),对检测到的第一高频信号和设置比率执行一种算术运算,并设置参考值(步骤21),检测用于识别光盘类型的第二高频信号电平(步骤22),比较参考值与第二高频信号电平(步骤23),确定参考值是否大于第二高频信号电平(步骤24),将光盘识别为单层光盘(步骤25),将光盘识别为双层光盘(步骤26)。
下面,将结合附图1和附图2详细说明本发明。
附图1是识别光盘类型的设备的示意框图。光盘拾取器10对放置在用于再现记录在光盘上的数据的设备中的光盘进行光线扫描,对根据存在的凹点的反射光量进行检测,所述凹点形成在光盘记录表面上,并且检测记录在光盘上的信息。在本实例中,光拾取器10包含多个光学传感器并且通过合成每个光学传感器检测到的信号来分析信息。
高频放大器11对光拾取器10检测到的多个高频信号进行合成,将合成的信号放大到适于信号处理的电平,且将合成并放大的高频信号传输至MICOM12。根据光盘类型输出不同放大的高频信号。
MICOM12按照存储在存储器13中的预定程序来控制系统,接收来自高频放大器11的高频信号输出,识别光盘并相应地控制伺服机构14。
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