[发明专利]光盘再现设备无效
申请号: | 02121726.2 | 申请日: | 2002-05-28 |
公开(公告)号: | CN1388522A | 公开(公告)日: | 2003-01-01 |
发明(设计)人: | 山元猛晴;岸本隆;苅田吉博;山口博之 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B20/10 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王敬波 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光盘 再现 设备 | ||
1.一种光盘再现设备,包括:
用于检测扇区的扇区检测部件;
扇区再现时间测量部件,用于测量扇区再现时间以及输出代表测量的扇区再现时间的扇区再现时间数据;
用于检测未记录部分的未记录部分检测部件,其中,未记录部分是未记录数据的扇区部分;
未记录部分时间测量部件,用于测量未记录部分的再现时间,并且输出代表测量的未记录部分的再现时间的未记录部分时间数据;以及
扇区确定部件,根据扇区再现时间数据和未记录部分时间数据之间的关系,确定扇区是否为未记录扇区,其中,未记录扇区是处于未记录状态的扇区。
2.根据权利要求1的光盘再现设备,其中,该扇区确定部件根据扇区再现时间数据和未记录部分时间数据之间的差值来确定扇区是否为未记录扇区。
3.根据权利要求1的光盘再现设备,其中,该扇区确定部件根据扇区再现时间数据和未记录部分时间数据之间的比率来确定扇区是否为未记录扇区。
4.根据权利要求1的光盘再现设备,还包括用于检测扇区中缺陷的缺陷检测部件,
其中,在缺陷检测部件正在检测缺陷期间,未记录部分时间测量部件暂停测量。
5.根据权利要求1的光盘再现设备,还包括用于检测扇区中缺陷的缺陷检测部件,其中,在缺陷检测部件正在检测缺陷期间,未记录部分时间检测部件暂停输出未记录部分时间数据。
6.根据权利要求1的光盘再现设备,其中,
扇区检测部件还包括用于检测地址的地址区检测部件,以及
当地址区检测部件正在检测地址期间,扇区再现时间测量部件暂停输出扇区再现时间数据。
7.根据权利要求1的光盘再现设备,其中,
光盘再现设备用于包括具有多个扇区的轨迹的光盘,
轨迹以指定周期摆动,
该多个扇区的每个扇区包括一个地址区和一个数据区,以及
光盘再现设备还包括:
用于检测轨迹摆动的摆动检测部件,
PLL部件,用于输出与被检测摆动周期同步的时钟信号,
地址区检测部件,用于根据时钟信号检测地址区。
8.根据权利要求7的光盘再现设备,还包括具有一个计数值的计数器,该计数值是根据时钟信号输出次数而确定的,
其中,当计数器的计数值达到相应于扇区再现时间数据的值时,计数器将计数值设置为指定值。
9.一种光盘再现设备,用于包括具有多个扇区的轨迹的光盘,其中,
轨迹以指定的周期摆动,
多个扇区,每个扇区包含一个地址区和一个数据区,以及
该光盘再现设备进一步包括:
用于检测轨迹摆动的摆动检测部件,
PLL部件,用于输出与被检测的摆动周期同步的时钟信号,
地址区检测部件,用于根据时钟信号来检测地址区,
PLL保持部件,用于在指定的一段时间中保持PLL部件,该段时间包括正在检测地址区的时间。
10.根据权利要求9的光盘再现设备,其中
地址区检测部件检测第一个地址区和第二个地址区,
已经检测了第一个地址区之后,当第一个指定时间段已经过去时,PLL保持部件开始保持PLL部件,
已经检测了第二个地址区之后,当第二个指定时间段已经过去时,PLL保持部件停止保持PLL部件。
11.根据权利要求10的光盘再现设备,其中,第一个指定时间段不依赖扇区的再现速度。
12.根据权利要求10的光盘再现设备,其中,第二个指定时间段不依赖扇区的再现速度。
13.根据权利要求10的光盘再现设备,其中,第一个指定时间段是根据输出时钟信号的次数而确定的。
14.根据权利要求10的光盘再现设备,其中,第二个指定时间段是根据输出时钟信号的次数而确定的。
15.根据权利要求10的光盘检测设备,还包括具有根据输出时钟信号次数而确定的计数值的计数器,
其中,第二个指定时间段是从检测第二个地址区到计数器的计数值达到或高于指定值的一段时间。
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