[发明专利]光学头装置无效
申请号: | 02122669.5 | 申请日: | 2002-06-20 |
公开(公告)号: | CN1392546A | 公开(公告)日: | 2003-01-22 |
发明(设计)人: | 竹下伸夫 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘宗杰,叶恺东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 装置 | ||
技术领域
本发明涉及将相对于信息记录媒体(所谓的光盘)的信息进行光学的记录、再现的光学头装置。具体地说,在包括所谓的轴滑动旋转方式的物镜用致动器,包括校正信息记录媒体与物镜光轴的相对倾斜的装置的光学头装置中,涉及简化结构,小型化或降低该装置的制造成本的技术。而且,涉及提高配有轴滑动旋转方式的物镜用致动器的装置的耐振动特性的技术。
背景技术
图16表示用于说明现有的光拾取装置100P的结构的示意图,图17表示用于说明检测该装置100P的光盘5P的倾斜的原理示意图,图18表示用于说明旋转驱动该装置100P的物镜4P的电磁驱动部件的原理示意图。再有,光拾取装置100P例如披露于(日本)特开平1-263951号公报。这里,在光盘5P上规定原点O,在原点O中规定相互垂直的x、y、z方向。
在现有的光拾取装置100P中,从光源P1向x方向射出的光2P由半透明反射镜3P向z方向反射,通过物镜4P聚光在光盘5P的信息记录面上。再有,设定大致平行于z方向的物镜4P的光轴9P。而且,光2P通过由光盘5P反射的半透明反射镜3P而入射到光检测器6P的二分割光检测器21aP、21bP。入射到二分割光检测器21aP、21bP的光2P被变换成电信号7P,使用该信号7P来进行信息的再现和光盘5P与物镜4P的位置错位检测。
在图17中,表示入射到物镜4P时的光2P的强度分布34P、和由倾斜的光盘5P反射的光2P再次入射到物镜4P时的强度分布35P。
在现有的光拾取装置100P中,物镜4P保持在可动部10P中,该可动部10P用四条线状的弹性支撑部件(例如金属线)11P支撑在固定部件12P上。
在现有的光拾取装置100P中,如下所示,检测光盘5P和物镜4P的相对倾斜(倾角),并进行校正。即,通过将与二分割光检测器21aP、21bP的输出IaP、IbP的差分对应的电流施加在线圈33P上,用与固定基座16P上配置的磁铁41P之间的洛伦兹力43P来产生旋转力矩42P。通过旋转力矩42P,装载有物镜4P的可动部10P围绕可动部10P的重心40P旋转。由此,校正物镜4P的倾斜。
再有,二分割光检测器21aP、21bP的输出IaP、IbP在运算器31P中进行差动运算,通过功率放大器32P施加到线圈33P。
如上述,在现有的光拾取装置100P中,装载了物镜4P的可动部10P仅由四条线11P支撑。因此,对于光盘5P的期望的信息信迹来说,如果使光拾取器进行存取,则可动部10P在存取方向上振动大。这种振动形成残留振动并持续,需要时间达到静止。其结果,存在存取时间增大的问题。
这样的残留振动,例如,可考虑通过配有所谓的轴滑动旋转方式的物镜用致动器的光学头装置来抑制。但是,在现有的轴滑动旋转方式中,为了校正物镜和光盘之间的相对倾斜,不仅物镜用致动器,而且使包含光源、半透明反射镜和光检测器等的光学头装置整体都倾斜。因此,这样的光学头装置存在着结构复杂且庞大的问题,其结果,存在光学头装置的制造成本高的问题。
在轴滑动旋转方式的物镜用致动器中,透镜托架和插入到该透镜托架的轴承孔中的支撑轴由刚体构成,所以来自外部的振动和冲击这样的外部干扰容易传送到物镜。因此,这样的光学头装置还存在因外部干扰而工作容易不稳定的问题。
发明内容
本发明的第1目的在于提供一种光学头装置,能够不易产生上述的残留振动,并且通过使装置整体倾斜来校正信息记录媒体和物镜之间的相对倾斜的结构,从而进行简化、小型化和降低制造成本。
而且,本发明的第2目的在于提供对于外部干扰具有良好抗振动特性的光学头装置。
方案1所述的光学头装置包括:物镜,将从光源发出的光聚光在信息记录媒体上;透镜托架,保持所述物镜,有沿与所述物镜的光轴平行的方向形成的轴承孔;支撑轴,插入到所述轴承孔中;光检测器,受光由所述信息记录媒体反射的所述光,根据受光的所述光输出与信息记录媒体和所述物镜之间相对倾斜有关的信息;以及倾角驱动装置,根据与所述倾斜有关的所述信息,将透镜托架倾斜到垂直于所述支撑轴的第1轴线周围。
方案2所述的光学头装置,在方案1所述的光学头装置中,所述轴承孔具有从孔内中央附近起至开口入口附近逐渐增大的孔径,所述轴承孔的壁面的剖面形状形成大致圆弧状。
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