[发明专利]电摄影设备及处理盒

说明书

本发明的领域及相关技术

本发明涉及电摄影设备和处理盒，并特别涉及使用一种充电方式的电摄影设备和处理盒，其中电摄影光敏部件主要根据一种充电机制被充电，从而电荷从接触光敏部件的充电部件直接注入光敏部件表面。

在电摄影工艺中，包括诸如硒、固化镉、氧化锌、非晶形硅或有机光电导体的光电导体电摄影光敏部件受到基本的或统一的处理，诸如充电，曝光，显影转印及定影，并在充电过程中，传统上使用通过向金属导线施加高电压(在DC5-8kV量级)所引起的电晕放电现象。然而根据电晕放电方式，电晕放电产物，诸如臭氧和NO_x，使光敏部件变质，结果使图象模糊不清或劣化，或污染金属线，以至对图象质量产生不良影响，其结果是图象中出现白色退化(white dropout)或黑色条纹。

特别地，在具有主要包含有机光电导体的光敏层的电摄影光敏部件的情形下，这比其它光敏部件，诸如硒光敏部件和非晶形硅光敏部件，有机光敏部件和非晶形硅光敏部件，具有较低的化学稳定性；当暴露在这种电晕放电产物时，由于化学反应，主要是氧化，有机光敏部件易于变质。于是，当在电晕放电的充电方式中重复使用时，由于其导致种种不良的变质，诸如图象模糊，降低的灵敏度和由于残余电位的增加所至较低的图象浓度，有机光敏部件易于显现出较低的打印或复印寿命。

另外，电晕放电的充电方式表现出较低的充电效率，只有5-30％电量用作为流向光敏部件的电流，而其大部分流向屏蔽板。为了减轻这些问题，已经研究了不使用电晕放电的接触充电方法，这在JP-A57-178267，JP-A56-104351，JP-A58-40566，JP-A58-139156，JP-A58-150975等等中已提出。特别地，在这种接触充电方式中，使从外部电源被供以大约1-2kV的DC电压的诸如导电弹性辊的充电部件与电摄影光敏部件接触，从而使光敏表面充电到规定的电位。

接触充电方式与电晕充电方式比较，在电荷的非均匀性和出现光敏部件电介质击穿方面有缺陷，其造成例如在长度方向大约2-200mm以及垂直于光敏部件运动方向的方向大约0.25mm或以下的条纹形不规律充电，导致如下的图象缺陷，即在正常显影方式中的白色条纹(在实黑或半色调图象中)，或者在反转显影方式中的黑色条纹。

为了解决上述问题而提供一种改进的充电均匀性，已经提出一种把AC电压叠加到DC电压并把叠加的电压施加到充电部件上的方法(JP-A63-149668)。根据该充电方法，AC电压(Vac)叠加到一DC电压(Vdc)而形成用于施加的脉动电压，从而实现均匀充电。

根据叠加电压充电方法，通过保证充电均匀性而消除图象的缺陷，诸如正常显影方式中的白色斑点，或反转显影方式中的黑色斑点或灰雾，根据Paschen定律要求叠加的AC电压具有至少两倍于放电起始电压(Vth)的峰值到峰值电位差(Vpp)。

然而，为了消除图象的缺陷要增加叠加的AC电压，这使得增加了脉动电压的最大施加电压，并且即使在光敏部件中有轻微缺陷的情形下也容易发生由于放电所至电介质的击穿。特别地，在包含具有较低电介质强度的有机光电导体的情形下，易于引起电介质的击穿。类似于DC充电方式那样，如果引起了这种电介质的击穿，在纵向接触方向(即记录材料的横向)，引起在正常显影方式中白色图象退化，而在反转显影方式中引起黑色条纹图象缺陷。

而且，在DC-AC叠加接触充电方式中，充电机制仍然依赖于通过小间隙的放电现象，放电产物，诸如NO_x和臭氧，使光敏部件表面变质，结果在表面附着低电阻材料，导致诸如图象模糊等问题。而且，由于充电部件接触光敏部件，且光敏部件暴露在比电晕充电方式高得多的电场强度中，光敏部件表层易于脱落而造成光敏部件较短的寿命。

为了解决上述问题，已经提出一种充电工艺，其中电荷直接注入到光敏部件而基本不会伴随放电现象。

电荷直接注入光敏部件(也可称为“注入充电”)为主的充电方式本质上与上述放电为主的(也可称为“放电充电”)充电方式不同。参照图1对两种充电方式的某些特性进行了说明，其中示出横坐标上指示的从电源施加的DC电压Vdc与纵坐标上的电摄影光敏部件上合成表面电位之间的关系。