[发明专利]细长的光学拾取器装置无效
申请号: | 02125141.X | 申请日: | 2002-06-28 |
公开(公告)号: | CN1396588A | 公开(公告)日: | 2003-02-12 |
发明(设计)人: | 延哲诚;成平庸 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/12 | 分类号: | G11B7/12;G11B7/135 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马高平,李晓舒 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 细长 光学 拾取 装置 | ||
1.一种细长的光学拾取器装置,它包括:
一个光源;
一个物镜,它用于将从光源入射的光束聚焦在记录介质上;
第一个光学装置,它设在光源和物镜之间的光学路径上,该第一个光学装置将从光源入射的光束转换为平行光束;
设置在第一个光学装置和物镜之间的光学路径上的光学轴线偏移装置,它用于将通过第一个光学装置的平行光束的光学轴线,在一个方向上平行偏移;
设置在光学轴线偏移装置和物镜之间的光学路径上的第二个光学装置,它将通过该光学轴线偏移装置的平行光束反射至记录介质;和
一个光电检测器;它用于接收从记录介质反射出来的,然后通过光学轴线偏移装置的光束,并进行光电转换。
2.如权利要求1所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,光源发射的光束基本上与记录介质的平面表面平行。
3.如权利要求2所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该光学轴线偏移装置为一块光学平板。
4.如权利要求3所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,光学平板的形状为平行四边形,其相对的侧边互相平行。
5.如权利要求1所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该第一个光学装置为一个校正透镜或全息摄影装置。
6.如权利要求1所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,它还包括设在第一个光学装置和光学轴线偏移装置之间的光学路径转换装置,用于转换从记录介质反射出来的光束的路径。
7.如权利要求6所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该光学路径转换装置为一个光束分离器。
8.如权利要求1所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该光学路径转换装置与第二个光学装置接触。
9.如权利要求1所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该第二个光学装置为一个反射镜。
10.一种细长的光学拾取器装置,它包括:
用于分别发射具有不同波长的第一和第二个光束的第一和第二个光源;
用于将从相应的第一和第二个光源入射的第一和第二个光束聚焦在记录介质上的一个物镜;
设在第一个光源和物镜之间的光学路径上的第一个光学装置,它用于将从第一个光源入射的第一个光束转换为平行光束;
设在第二个光源和物镜之间的光学路径上的第二个光学装置,它用于将从第二个光源入射的第二个光束转换为平行光束;
设在第一和第二个光学装置与物镜之间的光学路径上的光学轴线偏移装置,它用于将通过相应的第一和第二个光学装置的平行光束的光学轴线在一个方向上平行偏移;
设在光学轴线偏移装置和物镜之间的光学路径上的第三个光学装置,它将通过该光学轴线偏移装置的平行光束反射至记录介质;
设在第一和第二个光学装置与光学轴线偏移装置之间的光学路径上的光学路径转换装置,它用于转换从记录介质反射出来的第一和第二个光束的路径;和
一个光电检测器;它用于接收从记录介质反射出来,然后通过光学轴线偏移装置的光束,并进行光电转换。
11.如权利要求10所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,每一个光源发射一个光束,使该光束基本上与记录介质的平面表面平行。
12.如权利要求11所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该光学轴线偏移装置为一块光学平板。
13.如权利要求12所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该光学平板的形状为平行四边形,其相对的侧边互相平行。
14.如权利要求10所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,第一和第二个光学装置中的每一个装置都是一个校正透镜或全息摄影装置。
15.如权利要求10所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该光学路径转换装置与第三个光学装置接触。
16.如权利要求10所述的细长的光学拾取器装置,其特征为,该第三个光学装置为一个反射镜。
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