[发明专利]外部磁场测定方法及装置，静磁场校正方法和MRI系统

权利要求书

1、一种外部磁场测定方法，其特征在于：

一磁化检测装置位于包括在MRI系统中的磁体部件的附近；

一磁场产生装置位于所述磁化检测装置的附近；

所述磁场产生装置产生一补偿磁场，以便在缺少外部磁场的情况下，补偿磁场将取消由所述磁体部件产生并由所述磁化检测装置检测的磁场；和

所述磁化检测装置测定具有产生补偿磁场的外部磁场。

2、如权利要求1的一种外部磁场测定方法，其中假定由所述磁体部件产生的静磁场的方向为Z方向，所述磁化检测装置包括一Z方向的磁性传感器，检测在Z方向上显示出的磁化强度。

3、如权利要求1的一种外部磁场测定方法，其中假定由所述磁体部件产生的静磁场的方向为Z方向，且假定与Z方向垂直的两个相互正交的方向分别为Y和X方向，所述磁化检测装置包括一Z方向的磁性传感器，一Y方向的磁性传感器和一X方向的磁性传感器，分别检测由所述磁体部件在Z，Y和X方向上显示出的磁化强度。

4、如权利要求2或3的一种外部磁场测定方法，其中所述磁场产生装置包括至少一对小型线圈，排列成在Z方向上将所述Z方向的磁性传感器夹在中间，和一线圈驱动电路，供给所述小型线圈电流。

5、如权利要求3的一种外部磁场测定方法，其中所述磁场产生装置包括一对排列成在Z方向上将所述Z方向的磁性传感器夹在中间的小型线圈，一对排列成在Y方向上将所述Y方向的磁性传感器夹在中间的小型线圈，一对排列成在X方向上将所述X方向的磁性传感器夹在中间的小型线圈和供给所述小型线圈电流的线圈驱动电路。

6、如权利要求1的一种外部磁场测定方法，其中所述磁化检测装置位于磁体部件的上面。

7、如权利要求1的一种外部磁场测定方法，其中所述补偿磁场根据温度被校正。

8、一种静磁场校正方法，其特征在于：

将一磁场校正线圈加到包括在MRI系统中的磁体部件的磁轭中；

将与按照权利要求1的外部磁场测定方法所测出的外部磁场成正比的校正电流供给到所述磁场校正线圈；和

为了校正静磁场，因而产生一校正磁场。

9、一种静磁场校正方法，其特征在于：

假定由包括在MRI系统中的磁体部件所产生的静磁场的方向为Z方向，将一对大型线圈排列成在Z方向上将所述磁体部件夹在中间；

将与按照权利要求1的外部磁场测定方法所测出的外部磁场成正比的校正电流供给到所述大型线圈；和

为了校正静磁场，因而产生一校正磁场。

10、一种静磁场校正方法，其特征在于：

假定由在MRI系统中的磁体部件产生的静磁场的方向为Z方向，且与Z方向垂直的两个相互正交的方向分别为Y和X方向，将一对大型线圈排列成在Z方向上将所述磁体部件夹在中间；

将一对大型线圈排列成在Y方向上将所述磁体部件夹在中间；

将一对大型线圈排列成在X方向上将所述磁体部件夹在中间；

将与按照权利要求1的外部磁场测定方法所测出的外部磁场成正比的校正电流供给到所述大型线圈；和

为了校正静磁场，因而产生校正磁场。

11、一种外部磁场测定装置，包括：

一磁化检测装置，位于包括在MRI系统中的磁体部件的附近；和

一磁场产生装置，位于所述磁化检测装置的附近，用于产生补偿磁场，以便在缺少外部磁场的情况下，补偿磁场将取消由所述磁体部件产生并由所述磁化检测装置检测的磁场。

12、如权利要求11的一种外部磁场测定装置，其中假定由所述磁体部件产生的静磁场的方向为Z方向，所述磁化检测装置包括一Z方向的磁性传感器，用于检测在Z方向上显示出的磁化强度。

13、如权利要求11的一种外部磁场测定装置，其中假定由所述的磁体部件产生的静磁场的方向为Z方向，且假定与Z方向垂直的两个相互正交的方向分别为Y和X方向，所述磁化检测装置包括一Z方向的磁性传感器，一Y方向的磁性传感器和一X方向的磁性传感器，分别检测所述磁体部件在Z，Y和X方向上显示出的磁化强度。