[发明专利]快速光传输模组测试系统及其测试方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种快速光传输模组测试系统及方法，特别是一种应用于同步传输模组的层级一(Synchronous Transfer Mode 1，STM-1)的光传输模组的测试环境下，借由整合多台测试仪器，让使用者能透过该光传输模组测试系统，并能快速且同时的测量多个产品，进而提升测试效率的测试系统与方法。

背景技术

由于一个光传输元件最好的效能评估方法就是计算每一个从发射端送出的位元在接收端发生错误的几率，即所谓的误码率(Bit ErrorRatio，BER)，通常一套误码率测试系统包含数码产生器(Pulse PatternGenerator，PPG)及误码侦测器(Error Detector，ED)。请参阅图1，是显示习知光传输模组测试系统的实施架构图，习知的光传输模组测试系统是包括一数字资料分析仪1(Digital Data Analyzer，DDA)，其中，该数字资料分析仪1(DDA)具有资料输入端及资料输出端，并可结合数码产生器2及误码侦测器3为一体，而使用者于实际测量时，应先以一光传输模组作为标准样本4(Golden Sample)，以提供其他待测的同型光传输模组5(Transceiver)的标准光源，一般将光传输模组置入室温下量测，而该光传输模组5具有发送器(Transmitter，Tx)及接收器(Receiver，Rx)两部分。

请继续参阅图2，是显示习知的光传输模组测试方法的流程图，并请配合参阅图1。在一般的光传输模组的测试方法中，要测试一完整的光传输模组必须包含接收端测试(Rx)与传送端测试(Tx)，该传送端测试须完成光谱分析仪测量程序108与数字通讯分析仪测试程序109，首先经由数码产生器2将数字信号输出至待测光传输模组5(DUT)的发送器，再经由发送器传送该信号至一数字通讯分析仪7(Digital CommunicationAnalyzer，DCA)及一光谱分析仪14(Optical Spectrum Analyzer，OSA)，该数字通讯分析仪7用以测试包含平均功率(Average power)、消光率(Extinction Ratio)、抖动(Jitter)、上升时间(Rise Time)、下降时间(Falling Time)、眼图遮罩测试(Eye Mask Test)及眼图宽度(Eye Width)等参数，而光谱分析仪14用以测试光信号的中心波长(Center Wavelength)及频宽(Spectrum Bandwidth)。

光传输模组的接收端测试包含执行调整输入光功率程序101，是由数码产生器2输出一数字信号至一标准样本4的发送器，再经由该发送器将信号传送至一光衰减器6(Attenuater，ATT)，依使用者要求调整光衰减器6将光信号能量进行预期性的衰减，而由一光功率器8(Optical PowerMeter，OPM)测量待测光传输模组5的输入光功率；同时将衰减信号传送至待测光传输模组5的接收器端，并传送至误码侦测器3，以进行测试点自动搜寻程序102，用以寻求待测光传输模组5的最佳测试点，并当搜寻最佳测试点后，测量误码率程序103即由误码侦测器3量测该信号的误码率，以计算出发送器送出的位元在接收器发生错误的几率；程序104判断待测光传输模组5所测量的误码率是否完成所有的测量参数；若否，则回程序101进行下一测试点输入光功率的调整；若是，则程序105计算出该待测光传输模组5的灵敏度(Sensitivity)。

请参阅图3，是显示光传输模组灵敏度测试的原理说明图。当完成所有的测量参数则执行计算结果程序105，依据所测接收器的输入功率及误码率，计算出该光传输模组的灵敏度13以评估其效能。由图3所示得知，当误码侦测器3(ED)接收功率降低时，误码率会随之增加。由于习知的光传输模组测试系统及方法，仅能一次测量一个待测产品，一旦待测产品的数量增加时，则生产测试的时间亦随之增加，并且会降低生产的效率，不仅相当冗长并浪费太多的时间，亦不符合经济成本及时效性。

因此，本发明的主要目的是提供一种快速光传输模组测试系统及方法，借由整合多台测试仪器，让使用者能透过该光传输模组测试系统，能快速且同时做多个产品的测量，进而提升测试效率的测试系统与方法。

发明内容