[发明专利]序列散斑场强度扫描位移测量方法无效
| 申请号： | 02130912.4 | 申请日： | 2002-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN1401990A | 公开（公告）日： | 2003-03-12 |
| 发明（设计）人： | 李喜德;陶刚;邓兵;杨懿彰 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01N21/88 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 序列 散斑场 强度 扫描 位移 测量方法 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/02130912.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
