[发明专利]磁流体表观密度随磁场变化测量仪无效

专利信息
申请号: 02132428.X 申请日: 2002-06-07
公开(公告)号: CN1387033A 公开(公告)日: 2002-12-25
发明(设计)人: 李学慧;陆鸿钧;张萍 申请(专利权)人: 大连大学
主分类号: G01N9/00 分类号: G01N9/00;G09B23/06
代理公司: 大连科技专利代理有限公司 代理人: 徐军
地址: 116622 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 流体 表观 密度 磁场 变化 测量仪
【权利要求书】:

1、磁流体表观密度随磁场变化测量仪,由电磁铁和单称盘天平构成,其特征是:在箱体[1]内装电磁铁[2],箱体上盖有接通电磁铁的可调转换开关,在箱体上盖上开有对应电磁铁的窗口,窗口中插入装有磁流体[4]的容器[5],在箱体上盖上装单称盘天平[10],天平一侧为测锤[3],另一侧为单称盘[12],测锤悬挂在容器液体中。

2、根据权利要求1所述的磁流体表观密度随磁场变化测量仪,其特征是:单称盘天平座上有螺杆[8]、螺母[9],单称盘天平上有位置标尺[11]。

3、根据权利要求1所述的磁流体表观密度随磁场变化测量仪,其特征是:在箱体[1]内一侧装纵向电磁铁[2],在箱体另一侧装横向电磁铁[6]和磁轭[7]。

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