[发明专利]一种用于X射线源剂量率监控的穿透电离室有效
| 申请号： | 02156411.6 | 申请日： | 2002-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN1508564A | 公开（公告）日： | 2004-06-30 |
| 发明（设计）人： | 李元景;缪庆文;张清军;高文焕;代主得;郭红云 | 申请（专利权）人： | 清华大学;清华同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/185 | 分类号： | G01T1/185;G01N23/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 射线 剂量率 监控 穿透 电离室 | ||
【说明书】：
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