[发明专利]具有测试模式的半导体存储器及应用它的存储系统无效
| 申请号： | 02159805.3 | 申请日： | 2002-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN1453793A | 公开（公告）日： | 2003-11-05 |
| 发明（设计）人： | 山冈茂;久家重博 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G11C11/34 | 分类号： | G11C11/34;G11C11/4078;G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘宗杰,王忠忠 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 具有 测试 模式 半导体 存储器 应用 存储系统 | ||
【权利要求书】：
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