[实用新型]取置机测试手臂的调整治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种取置机测试手臂的调整治具，特别指一种用于该测试手臂的水平校正及其对位的调整治具。

背景技术

取置机测试手臂(Handler Test Arm)是一种用以吸取集成电路(IC)至测试基板上作检测的机具。如图1及图2所示，公知的测试手臂1a是具有一可在平台2a上作水平及垂直方向位移的基座10a，及一用以吸取集成电路(图略)的取置头11a，且该取置头11a是通过其上方两侧的扣具12a扣合于基座10a相对应的下方两侧处，以组成该测试手臂1a的使用型态。

为便于该基座10a与取置头11a的组装，以及使组装后的测试手臂1a更为稳固，该测试手臂1a是在其基座10a与取置头11a之间至少设有两组凹、凸相配合的对位结构13a，而每一组对位结构13a则包含一凸设于基座10a底面的定位柱14a与一凹设于取置头11a顶面的定位孔15a。如此，当取置头11a的扣具12a尚未与基座10a扣合时，是可先利用该基座10a的定位柱14a嵌入取置头11a的定位孔15a中，以确认两者的相对位置后，再行扣合组装。

上述公知的测试手臂1a在检验集成电路(图略)时，是须先与锁设于平台2a上的测试基板20a作对位工作。如图2及图3所示，该测试基板20a上具有一座体21a，座体21a上设有一可供集成电路(图略)容置的方形置放空间22a，在接近该置放空间22a的两相对的对角处上穿设有校正孔23a，又在两校正孔23a内分别固设有一塑性护套24a。另外，在该测试手臂1a的取置头11a下方外围嵌固一框体16a，并在该框体16a上分别穿设有与座体21a的两校正孔23a相对应的校正杆17a。如此，该测试手臂1a可通过操作者以手动方式，将两校正杆17a调整至可穿入两校正孔23a的护套24a中，再通过操控该测试手臂1a的控制系统(图略)记录此时的坐标位置，以完成对位工作。

但是，由于该测试手臂1a在将集成电路(图略)吸取至测试基板20a上作检测工作时，是利用其取置头11a的底面18a与集成电路(图略)相贴附后吸取，再将该集成电路(图略)移动至上述进行对位工作时计算机所记录的坐标位置，并向下移动以将该集成电路(图略)下压至座体21a的置放空间22a内，以进行测试。然而，若该取置头11a的底面18a未保持水平状态时，则被测试手臂1a下压的集成电路(图略)即有可能因此而受损，故仍需调整该测试手臂1a的基座10a，使其能令取置头11a的底面18a保持水平，以避免损坏受检测的集成电路(图略)。但是，公知的测试手臂1a在此调整上，仅依靠操作者以肉眼作判断，而无利用其它客观的量具或器具作为校正的依据，故以此种调整方式，该测试手臂1a仍有或多或少的误差存在，对其是否能符合较高精确度的标准，仍有待商榷。

所以，由上可知，上述公知调整取置机测试手臂的方式，在实际使用上，显然不能达到较高的精确度要求，而有待加以改善。

于是，本实用新型人有感上述缺陷的可改善性，特潜心研究并配合学理运用，终于提出一种设计合理且有效改善上述缺陷的本实用新型。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种取置机测试手臂的调整治具，解决公知的测试手臂在吸取集成电路时无法确保其是否在水平状态，因此在精确度不高的情况下，避免会损坏受检测的集成电路。因此，须以更客观的量具或器具作为校正依据，并同时完成该测试手臂的对位工作，以减轻操作者的负担及繁复的程序。

为了实现上述的目的，本实用新型提供一种取置机测试手臂的调整治具，是用以校正测试手臂而使其得以保持水平状态，并同时与锁设于平台上的测试基板作对位。该调整治具包括一本体及至少一第一对位结构；其中，该本体的顶部呈一平整面，以作为水平校正，而该第一对位结构则设于该平整面上，并与测试手臂基座的第二对位结构相配合，以供该测试手臂对位，进而实现上述目的。

附图说明

为了能更进一步了解本实用新型的特征及技术内容，请参阅以下有关本实用新型的附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本实用新型加以限制的。

图1是公知测试手臂的分解示意图；

图2是公知测试手臂的使用状态示意图；

图3是公知测试基板的俯视图；

图4是公知测试手臂的基座俯视图；

图5是本实用新型调整治具的立体图；

图6是本实用新型调整治具置于测试手臂与平台之间的分解示意图；